本专题涉及电离辐射 标准 件的标准有54条。
国际标准分类中，电离辐射 标准 件涉及到辐射测量、辐射防护、半导体分立器件、无损检测、电子元器件综合、粘合剂和胶粘产品、光纤通信、消防。
在中国标准分类中，电离辐射 标准 件涉及到辐射防护与监测综合、光通信设备、辐射防护监测与评价、半导体分立器件综合、Ｘ射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器、半导体三极管、核仪器与核探测器综合、胶粘剂、工业物理因素危害控制、基础标准与通用方法、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合、电子元件综合。
德国标准化学会，关于电离辐射 标准 件的标准
DIN EN ISO 20046-2021 放射防护. 使用荧光原位杂交(FISH)易位试验评估电离辐射暴露的实验室性能标准(ISO 20046-2019); 德文版本EN ISO 20046-2021
美国材料与试验协会，关于电离辐射 标准 件的标准
ASTM E1654-1994(2021) 远程拉曼光纤分光镜检查用光纤和光缆电离辐射感应光谱变化测量的标准指南
ASTM F1892-12(2018) 半导体器件电离辐射（总剂量）效应试验标准指南
ASTM F996-11(2018) 用亚阈电流–将电离辐射引起的MOSFET阈值电压偏移分离为由于氧化物陷阱空穴和界面状态引起的元件的标准试验方法；电压特性
ASTM E3084-17 表征材料在非电离能量损失方面的粒子辐射的标准实践（NIEL）
ASTM E1250-2015 评定硅电子器件辐射强度试验用钴60辐射源的低能伽马成分的电离箱应用的标准试验方法
ASTM D1879-06(2014) 粘合剂样品暴露于电离辐射的标准实践
ASTM E1614-94(2013) 二氧化硅光纤和电缆电离辐射诱导衰减测量程序标准指南
ASTM E1654-94(2013) 用于远程拉曼光纤光谱测量的光纤和电缆的电离辐射诱导光谱变化的标准指南
ASTM F1892-12 半导体器件电离辐射（总剂量）效应试验标准指南
ASTM F1892-2012 半导体器件电离辐射 (总剂量) 效应试验的标准指南
ASTM F1467-11 X射线测试仪使用的标准指南（&x224810 keV光子）
ASTM F996-11 使用亚阈值电流 - 电压特性分离因氧化物陷阱和界面状态引起的电离辐射引起的MOSFET阈值电压偏移成分的标准测试方法
ASTM F1467-2011 半导体装置及集成电路电离辐射效应X射线测试仪(≈10 keV光子量)的标准使用指南
ASTM F996-2011 利用次临界伏安特性测定由于氧化空穴和界面性能产生的电离辐射感生金属氧化物半导体场应晶体管临界电压偏移分量的标准试验方法
ASTM F996-10 使用亚阈值电流 - 电压特性分离因氧化物陷阱和界面状态引起的电离辐射引起的MOSFET阈值电压偏移成分的标准测试方法
ASTM F996-2010 利用亚阈值安伏特性分离由于氧化空穴和界面态产生的电离辐射感应金属氧化物半导体场效应晶体管阈电压偏移的标准试验方法
ASTM E1250-2010 评估硅电子器件辐射强度试验用钴60辐射源的低能伽马成分的电离箱应用的标准试验方法
ASTM F1892-06 半导体器件电离辐射（总剂量）效应试验标准指南
ASTM D1879-06 粘合剂样品暴露于电离辐射的标准实践
ASTM F1892-2006 半导体器件电离辐射(总剂量)效应试验的标准指南
ASTM D1879-2006 暴露在电离辐射下的胶粘剂样品的标准操作规程
ASTM D1879-2006(2014) 暴露在电离辐射下胶粘剂样品的标准操作规程
ASTM F1467-99(2005)e1 半导体器件和微电路电离辐射效应试验中X射线测试仪（[近似]10千电子伏光子）的使用标准指南
ASTM F1467-99(2005) 半导体器件和微电路电离辐射效应试验中X射线测试仪（[近似]10千电子伏光子）的使用标准指南
ASTM E1654-94(2004) 用于远程拉曼光纤光谱测量的光纤和电缆的电离辐射诱导光谱变化的标准指南
ASTM F1892-04 半导体器件电离辐射（总剂量）效应试验标准指南
ASTM F1892-2004 半导体器件电离辐射(总剂量)效应试验的标准指南
ASTM E1654-94(1999) 用于远程拉曼光纤光谱测量的光纤和电缆的电离辐射诱导光谱变化的标准指南
ASTM F1467-99 半导体器件和微电路电离辐射效应试验中X射线测试仪（[近似]10千电子伏光子）的使用标准指南
ASTM F1467-1999 半导体器件和微电路的电离辐射效应试验中X射线测试仪(近似等于10keV辐射量子)的使用标准指南
ASTM F1467-1999(2005)e1 微电子装置的电离辐射效应试验中 X 射线测试仪(近似等于10 keV 辐射量子)的使用的标准指南
ASTM F1467-1999(2005) 半导体器件和微电路的电离辐射效应试验中X射线测试仪(近似等于10keV辐射量子)的使用标准指南
ASTM F1892-98 半导体器件电离辐射（总剂量）效应试验标准指南
ASTM F996-98(2003) 使用亚阈值电流 - 电压特性分离因氧化物陷阱和界面状态引起的电离辐射引起的MOSFET阈值电压偏移成分的标准测试方法
ASTM F996-98 使用亚阈值电流 - 电压特性分离因氧化物陷阱和界面状态引起的电离辐射引起的MOSFET阈值电压偏移成分的标准测试方法
ASTM F996-1998 利用亚阈值安伏特性测定由于氧化空穴和界面态产生的电离辐射感应金属氧化物半导体场效应晶体管阈电压偏移分量的标准试验方法
ASTM F1892-1998 半导体器件电离辐射(总剂量)效应试验的标准指南
ASTM F996-1998(2003) 利用亚阈值安伏特性测定由于氧化空穴和界面态产生的电离辐射感应金属氧化物半导体场效应晶体管阈电压偏移分量的标准试验方法
ASTM E1654-1994(2004) 用于远距离拉曼光纤光谱学的光纤和光缆的电离辐射感应光谱变化测量标准导则
ASTM E1614-1994(2004) 用于远距离光纤光谱测定和宽带系统的硅基光纤和光缆电离辐射感应衰减测量程序的标准导则
ASTM E1654-1994(2013) 远程拉曼光纤分光镜检查用光纤和光缆电离辐射感应光谱变化测量的标准指南
ASTM E1614-1994(1999) 远程光纤光谱和宽带系统用硅基光纤光缆中的电离辐射感应衰减测量程序的标准指南
ASTM E1250-1988(2005) 硅电子器件辐射强度试验用钴60辐射源的低能γ成分评估的电离箱的应用的标准试验方法
国际标准化组织，关于电离辐射 标准 件的标准
ISO 13304-2-2020 放射防护 - 电离顺磁共振（EPR）光谱法用于电离辐射回溯剂量测定的最低标准 - 第2部分:离体人牙釉质剂量测定
ISO 13304-2:2020 放射防护 - 电离顺磁共振（EPR）光谱法用于电离辐射回溯剂量测定的最低标准 - 第2部分:离体人牙釉质剂量测定
ISO 13304-1:2020 放射防护 - 电离辐射回顾性剂量学电子顺磁共振（EPR）光谱的最低标准 - 第1部分:一般原则
ISO 13304-1-2020 放射防护 - 电离辐射回顾性剂量学电子顺磁共振（EPR）光谱的最低标准 - 第1部分:一般原则
ISO 20046-2019 放射防护 - 使用荧光原位杂交（FISH）易位试验的实验室的性能标准 用于评估过度暴露于电离辐射
ISO 13304-1:2013 辐射防护——电离辐射回溯剂量测定用电子顺磁共振（EPR）光谱学最低标准第1部分:一般原则
ISO 13304-1-2013 辐射防护.电离辐射可追溯性剂量的电子顺磁共振(EPR)光谱的最低标准.第1部分:通则
法国标准化协会，关于电离辐射 标准 件的标准
NF M60-526-1-2013 辐射防护.电离辐射可追溯性剂量的电子顺磁共振(EPR)光谱的最低标准.第1部分:通则
欧洲标准化委员会，关于电离辐射 标准 件的标准
CEN/TR 14715-2004 机械安全.机械发出的电离辐射.在机械设计中应用技术标准以符合立法要求的导则
英国标准学会，关于电离辐射 标准 件的标准
PD CEN/TR 14715-2004 机械安全.机械发出的电离辐射.在机械设计中应用技术标准以符合立法要求的导则
