中子传感器检测

本专题涉及中子传感器的标准有29条。

国际标准分类中，中子传感器涉及到橡胶和塑料制品、集成电路、微电子学。

在中国标准分类中，中子传感器涉及到核仪器与核探测器综合、物性分析仪器、半导体二极管、半导体三极管。

美国材料与试验协会，关于中子传感器的标准

ASTM E721-22 电子设备辐射硬度试验用中子传感器中子能谱测定的标准指南

ASTM E1855-20 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法

ASTM E721-16 用于确定电子辐射硬度测试中子传感器中子能谱的标准指南

ASTM E720-16 选择和使用中子传感器用于确定电子辐射硬度测试中使用的中子光谱的标准指南

ASTM E1855-15 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法

ASTM E1855-2015 作为中子光谱传感器和位移破坏性监测器的2N2222A硅双极晶体管使用的标准试验方法

ASTM E721-11 用于确定电子辐射硬度测试中子传感器中子能谱的标准指南

ASTM E720-11 选择和使用中子传感器用于确定电子辐射硬度测试中使用的中子光谱的标准指南

ASTM E721-2011 电子辐射硬度试验测定中子传感器中子能谱的标准指南

ASTM E720-2011 电子辐射强度测试中测定中子光谱的中子传感器的选择和应用标准指南

ASTM E1855-10 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法

ASTM E1855-2010 使用2N2222A硅双极晶体管作中子光谱传感器和位移损坏监控器的标准试验方法

ASTM E720-08 选择和使用中子传感器用于确定电子辐射硬度测试中使用的中子光谱的标准指南

ASTM E721-07 用于确定电子辐射硬度测试中子传感器中子能谱的标准指南

ASTM E1855-05e1 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法

ASTM E1855-05 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法

ASTM E1855-2005 作为中子光谱传感器和位移损坏监测器的2N2222A硅双极晶体管的使用的标准试验方法

ASTM E1855-2005e1 作为中子光谱传感器和位移损坏监测器的2N2222A硅双极晶体管的使用的标准试验方法

ASTM E720-04e1 选择和使用中子传感器用于确定电子辐射硬度测试中使用的中子光谱的标准指南

ASTM E1855-04 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法

ASTM E1855-04e1 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法

ASTM E720-04 选择和使用中子传感器用于确定电子辐射硬度测试中使用的中子光谱的标准指南

ASTM E1855-2004 作为中子光谱传感器和位移损坏监测器的2N2222A硅双极晶体管使用的标准试验方法

ASTM E1855-2004e1 作为中子光谱传感器和位移损坏监测器的2N2222A硅双极晶体管使用的标准试验方法

ASTM E720-02 选择和使用中子传感器用于确定电子辐射硬度测试中使用的中子光谱的标准指南

ASTM E721-01 用于确定电子辐射硬度测试中子传感器中子能谱的标准指南

ASTM E721-94 用于确定电子辐射硬度测试中子传感器中子能谱的标准指南

ASTM E1855-96 使用2N2222A硅双极晶体管作为中子光谱传感器和位移损伤显示器的标准测试方法

ASTM E1855-1996 作为中子光谱传感器和位移破坏性监测器的2N2222A硅双极晶体管使用的标准试验方法