原子力显微镜近场显微镜检测

本专题涉及原子力显微镜 近场显微镜的标准有30条。

国际标准分类中，原子力显微镜 近场显微镜涉及到光学和光学测量、物理学、化学、长度和角度测量、试验条件和规程综合、分析化学、核能工程、陶瓷、航空器和航天器综合。

在中国标准分类中，原子力显微镜 近场显微镜涉及到基础学科综合、基础标准与通用方法、物理学与力学、光学计量、基础标准与通用方法、、、勘探采矿和工艺监测核仪器、特种陶瓷、基础标准与通用方法、放大镜与显微镜。

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于原子力显微镜 近场显微镜的标准

GB/T 40066-2021 纳米技术 氧化石墨烯厚度测量 原子力显微镜法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于原子力显微镜 近场显微镜的标准

GB/T 32262-2015 用于原子力显微镜检测的脱氧核糖核酸样品的制备方法

国家质检总局，关于原子力显微镜 近场显微镜的标准

GB/T 31227-2014 原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法

GB/T 28872-2012 活细胞样品纳米结构的磁驱动轻敲模式原子力显微镜检测方法

GB/T 27760-2011 利用Si（111）晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法

GB/T 32189-2015 氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法

国际标准化组织，关于原子力显微镜 近场显微镜的标准

ISO 23729-2022 表面化学分析.原子力显微镜.有限探针尺寸放大原子力显微镜图像的恢复程序指南

ISO 21222-2020 表面化学分析.扫描探针显微镜.用原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的程序

ISO 19606:2017 精细陶瓷（先进陶瓷 先进技术陶瓷） 原子力显微镜对细陶瓷膜表面粗糙度的测试方法

ISO 13095:2014 表面化学分析 - 原子力显微镜 - 用于纳米结构测量的AFM探针柄轮廓的原位表征程序

ISO 13095-2014 表面化学分析. 原子力显微镜学. 纳米结构测量用AFM探针柄轮廓的现场鉴定程序

美国材料与试验协会，关于原子力显微镜 近场显微镜的标准

ASTM E2382-04(2020) 扫描隧道显微镜和原子力显微镜中的扫描仪和尖端相关人工标准指南

ASTM E2859-11(2017) 使用原子力显微镜测量纳米粒子的标准指南

ASTM F2908-14 飞机飞行手册标准规范(；原子力显微镜41；对于小型无人驾驶飞机系统(；苏亚斯和#41

ASTM E2382-04(2012) 扫描隧道显微镜和原子力显微镜中的扫描仪和尖端相关人工标准指南

ASTM E2859-11 使用原子力显微镜测量纳米粒子的标准指南

ASTM E2530-2006 用Si(111)单原子层级对原子力显微镜进行次纳米位移级的Z倍率校准的标准规程

ASTM E2382-2004(2012) 扫描隧道显微镜学和原子力显微镜学中扫描器和与触点相关物品的标准指南

ASTM E2382-2004 扫描隧道显微镜学和原子力显微镜学中扫描器和与触点相关物品的指南

中国团体标准，关于原子力显微镜 近场显微镜的标准

T/GDASE 0008-2020 石墨烯薄膜杨氏模量的测定 原子力显微镜法

T/CSTM 00003-2019 二维材料厚度测量 原子力显微镜法

国家国防科技工业局，关于原子力显微镜 近场显微镜的标准

EJ/T 20176-2018 金刚石刀具刃口锋利度的原子力显微镜测量方法

日本工业标准调查会，关于原子力显微镜 近场显微镜的标准

JIS R1683-2014 用原子力显微镜方法测定陶瓷薄膜表面粗糙度的试验方法

JIS R1683-2007 用原子力显微镜方法测定陶瓷薄膜表面粗糙度的试验方法

英国标准学会，关于原子力显微镜 近场显微镜的标准

BS ISO 13095-2014 表面化学分析. 原子力显微镜学. 纳米结构测量用AFM探针柄轮廓的现场鉴定程序

，关于原子力显微镜 近场显微镜的标准

GOST R 8.700-2010 确保测量一致性的国家体系.利用原子力扫描探针显微镜进行测量的表面粗糙度效果测高法

GOST 8.593-2009 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.鉴定方法

GOST R 8.593-2009 确保测量一致性的国家体系.原子力扫描隧道显微镜.检定规程

GOST R 8.635-2007 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.校准方法

GOST R 8.635-2007 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.校准方法