芯片辐射检测

本专题涉及芯片 辐射的标准有5条。

国际标准分类中，芯片 辐射涉及到半导体分立器件、集成电路、微电子学。

在中国标准分类中，芯片 辐射涉及到半导体二极管、半导体集成电路、计算机应用。

(美国)固态技术协会,隶属EIA，关于芯片 辐射的标准

JEDEC JEP133B-2005 辐射多芯片模块和混合微电路的生产指南

美国国防后勤局，关于芯片 辐射的标准

DLA SMD-5962-04227 REV B-2005 多芯片模块双电压耐辐射静态随机存取存储器,512千 X 32比特,氧化物半导体数字记忆微型电路

DLA SMD-5962-01533 REV B-2003 多芯片组件数字存储器微电路 CMOS 512K X 32-BIT3.3V 辐射加固SRAM

DLA SMD-5962-01532 REV B-2003 多芯片组件(8 M)辐射加固数字存储器微电路 CMOS 1024K X 8-BIT低电压SRAM

DLA SMD-5962-94667-1995 1750芯片集硅辐射多片状微电路数字微电路