探针仪测试检测

本专题涉及探针仪 测试的标准有22条。

国际标准分类中，探针仪 测试涉及到电子设备用机械构件、土方工程、挖掘、地基构造、地下工程、有色金属产品、管道部件和管道、牙科、无损检测、航空航天用电气设备和系统、长度和角度测量、电工和电子试验、导体材料、塑料、电子元器件综合、水果、蔬菜及其制品、半导体材料、电学、磁学、电和磁的测量。

在中国标准分类中，探针仪 测试涉及到加工专用设备、金属化学性能试验方法、加工工艺综合、电子元器件、合成树脂、塑料基础标准与通用方法、电子元件综合、电气系统与设备、元素半导体材料、基础标准和通用方法、检验专用设备。

国家质检总局，关于探针仪 测试的标准

GB/T 15394-1994 多探针测试台通用技术条件

，关于探针仪 测试的标准

SIS SS-IEC 1032-1992 外壳保护检验测试探针

法国标准化协会，关于探针仪 测试的标准

NF A05-115-1-2012 铜和铜合金.测量圆形铜或铜合金管无缝缺陷的涡流试验.第2部分:使用内表面上内部测试探针的试验

NF A05-115-2-2012 铜和铜合金.测量圆形铜或铜合金管无缝缺陷的涡流试验.第2部分:使用内表面上内部测试探针的试验

韩国标准，关于探针仪 测试的标准

KS B 0535-2005 超声波探针性能测试方法

KS B 0535-2005 超声波探针性能测试方法

英国标准学会，关于探针仪 测试的标准

BS EN 2591-415-2001 电气和光学连接元件.试验方法.测试探针损伤(塞孔接点)

欧洲标准化委员会，关于探针仪 测试的标准

EN 2591-6415-2001 航空航天系列.光电连接元件的试验方法.第6415部分:光学元件.探针损伤测试

EN 2591-415-2001 航空航天系列.光电连接元件的试验方法.第415部分:测试探针损伤(塞孔接点)

日本工业标准调查会，关于探针仪 测试的标准

JIS K7194-1994 用四点探针排列法测定传导塑料电阻率的测试方法

行业标准-电子，关于探针仪 测试的标准

SJ/T 10481-1994 硅外延层电阻率的面接触三探针.测试方法

SJ/T 31123-1994 自动多探针测试台完好要求和检查评定方法

欧洲航空航天和国防工业标准化协会，关于探针仪 测试的标准

ASD-STAN PREN 2591-FD15-1993 航空航天系列．电气和光学连接部件．试验方法．第FD15部分:光学元件．测试探针损坏;第P1版

ASD-STAN PREN 2591-D15-1992 航空航天系列．电气和光学连接部件．试验方法．第D15部分:测试探针损坏（插孔式触点）;第P1版

欧洲航空工业协会，关于探针仪 测试的标准

AECMA PREN 2591-D15-1992 航空航天系列.光电连接元件　试验方法　D15部分:测试探针损伤(塞孔接点)

美国材料与试验协会，关于探针仪 测试的标准

ASTM F1393-1992(1997) 用带汞探针的铣床回授靠模工具机测量器测定硅中净载流子密度的测试方法

国际电工委员会，关于探针仪 测试的标准

IEC/TR 61032-1990 靠近防护外罩的测试探针检验