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探针仪测试检测

本专题涉及探针仪 测试的标准有22条。

国际标准分类中,探针仪 测试涉及到电子设备用机械构件、土方工程、挖掘、地基构造、地下工程、有色金属产品、管道部件和管道、牙科、无损检测、航空航天用电气设备和系统、长度和角度测量、电工和电子试验、导体材料、塑料、电子元器件综合、水果、蔬菜及其制品、半导体材料、电学、磁学、电和磁的测量。

在中国标准分类中,探针仪 测试涉及到加工专用设备、金属化学性能试验方法、加工工艺综合、电子元器件、合成树脂、塑料基础标准与通用方法、电子元件综合、电气系统与设备、元素半导体材料、基础标准和通用方法、检验专用设备。


国家质检总局,关于探针仪 测试的标准

GB/T 15394-1994 多探针测试台通用技术条件

,关于探针仪 测试的标准

SIS SS-IEC 1032-1992 外壳保护检验测试探针

法国标准化协会,关于探针仪 测试的标准

NF A05-115-1-2012 铜和铜合金.测量圆形铜或铜合金管无缝缺陷的涡流试验.第2部分:使用内表面上内部测试探针的试验

NF A05-115-2-2012 铜和铜合金.测量圆形铜或铜合金管无缝缺陷的涡流试验.第2部分:使用内表面上内部测试探针的试验

韩国标准,关于探针仪 测试的标准

KS B 0535-2005 超声波探针性能测试方法

KS B 0535-2005 超声波探针性能测试方法

英国标准学会,关于探针仪 测试的标准

BS EN 2591-415-2001 电气和光学连接元件.试验方法.测试探针损伤(塞孔接点)

欧洲标准化委员会,关于探针仪 测试的标准

EN 2591-6415-2001 航空航天系列.光电连接元件的试验方法.第6415部分:光学元件.探针损伤测试

EN 2591-415-2001 航空航天系列.光电连接元件的试验方法.第415部分:测试探针损伤(塞孔接点)

日本工业标准调查会,关于探针仪 测试的标准

JIS K7194-1994 用四点探针排列法测定传导塑料电阻率的测试方法

行业标准-电子,关于探针仪 测试的标准

SJ/T 10481-1994 硅外延层电阻率的面接触三探针.测试方法

SJ/T 31123-1994 自动多探针测试台完好要求和检查评定方法

欧洲航空航天和国防工业标准化协会,关于探针仪 测试的标准

ASD-STAN PREN 2591-FD15-1993 航空航天系列.电气和光学连接部件.试验方法.第FD15部分:光学元件.测试探针损坏;第P1版

ASD-STAN PREN 2591-D15-1992 航空航天系列.电气和光学连接部件.试验方法.第D15部分:测试探针损坏(插孔式触点);第P1版

欧洲航空工业协会,关于探针仪 测试的标准

AECMA PREN 2591-D15-1992 航空航天系列.光电连接元件 试验方法 D15部分:测试探针损伤(塞孔接点)

美国材料与试验协会,关于探针仪 测试的标准

ASTM F1393-1992(1997) 用带汞探针的铣床回授靠模工具机测量器测定硅中净载流子密度的测试方法

国际电工委员会,关于探针仪 测试的标准

IEC/TR 61032-1990 靠近防护外罩的测试探针检验

荣誉资质

旗下实验室已通过CMA、CNAS、ISO等多项资质认证,检测能力经权威部门评审认定,为检测数据的专业性与权威性提供坚实保障。

CMA检验检测机构资质认定证书
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CNAS实验室认可证书
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ISO管理体系认证证书
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高新技术企业证书
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精密仪器设备

研究所配备电感耦合等离子体质谱仪、气相色谱-质谱联用仪、高效液相色谱仪、扫描电子显微镜等各类精密仪器设备1000+台(套),覆盖光谱、色谱、质谱、力学、环境可靠性等多个检测方向。所有仪器均依法检定校准、量值溯源可靠,为检测数据的准确性与可追溯性提供坚实的硬件保障。

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电感耦合等离子体质谱仪

电感耦合等离子体质谱仪 ICP-MS

面向环境、食品、材料等领域,实现痕量与超痕量元素同时分析,检出限低至ppt级。

气相色谱-质谱联用仪

气相色谱-质谱联用仪 GC-MS

用于挥发性及半挥发性有机物的定性定量分析,广泛应用于环境监测与化学品检测。

高效液相色谱仪

高效液相色谱仪 HPLC

实现复杂体系中有机化合物的高效分离与准确定量,服务多领域成分检测。

扫描电子显微镜

扫描电子显微镜 SEM

观察材料微观形貌与组织结构,配合能谱实现微区成分分析。

万能材料试验机

万能材料试验机 UTM

精确测定材料拉伸、压缩、弯曲等力学性能指标,支撑产品质量控制。

高低温交变试验箱

高低温交变试验箱 TEMP

模拟高低温交变环境,考核产品在极端温度条件下的适应性与可靠性。

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