本专题涉及氧化物测量的标准有73条。
国际标准分类中,氧化物测量涉及到造船和海上构筑物综合、金属材料试验、表面处理和镀涂、物理学、化学、长度和角度测量、核能工程、导体材料、计量学和测量综合、陶瓷、航空航天制造用材料、电学、磁学、电和磁的测量、半导体分立器件、空气质量、分析化学、燃料、电气设备元件、有色金属、磁性材料。
在中国标准分类中,氧化物测量涉及到船用内燃机、金属物理性能试验方法、材料防护、工业自动化仪表与控制装置、基础标准与通用方法、特种陶瓷、轻金属及其合金分析方法、电工材料和通用零件综合、重金属及其合金、裸电线、其他、物理学与力学、半金属与半导体材料综合、其他物质成份分析仪器、磁性元器件、工业防尘防毒技术、半导体三极管、电容器。
GB/T 36885-2018 船用柴油机硫氧化物排放测量方法
GB/T 18502-2018 临界电流测量 银和/或银合金包套Bi-2212和Bi-2223氧化物超导体的直流临界电流
GB/T 30537-2014 超导电性 块状高温超导体的测量 大晶粒氧化物超导体的俘获磁通密度
GB/T 21115-2007 块状氧化物超导体磁浮力的测量
GB/T 6462-2005 金属和氧化物覆盖层 厚度测量 显微镜法
GB/T 6462-1986 金属和氧化物覆盖层 横断面厚度显微镜测量方法
ASTM E2864-18(2022) 使用氪气吸附测量吸入暴露室内空气中金属氧化物纳米颗粒表面积浓度的标准试验方法
ASTM B487-20 通过横截面显微镜检查测量金属和氧化物涂层厚度的标准测试方法
ASTM E2864-18 用氪气吸附法测量吸入暴露室中空气中金属氧化物纳米颗粒表面积浓度的标准试验方法
ASTM C1854-17 用惰性气体熔化技术和热导率测量法测定混合氧化物((U Pu)O
ASTM E2864-13 采用氪气吸附法测量吸入暴露室中气载金属和金属氧化物纳米颗粒表面面积的标准试验方法
ASTM D4413-98(2009)e1 工厂周围大气中测量乙烯氧化物的标准试验方法(碳管法)
ASTM F616M-96(2003) 测量MOSFET(金属氧化物半导体场效应晶体管)排漏电流的标准测试方法(米制单位)
ASTM F616M-96 测量MOSFET(金属氧化物半导体场效应晶体管)排漏电流的标准测试方法(米制单位)
ASTM F1153-92(1997) 用电容-电压测量法对硅金属氧化物结构特性的试验方法
ASTM B487-85(1997) 通过横截面的显微镜检查测量金属和氧化物涂层厚度的标准试验方法
NF A91-110-2021 金属和氧化物镀层. 镀层厚度的测量. 显微镜法
NF A91-481-2010 铝和铝合金阳极氧化.阳极氧化物镀层厚度的测定.分光显微镜的无损测量.
NF C31-888-3-2006 超导性.第3部分:临界电流测量.Bi-2212和Bi-2223氧化物银包套超导体的直流临界电流
NF C31-888-9-2005 超导性.第9部分:成批高温超导体的测量.大粒氧化物超导体的陷磁通量密度
NF A91-110-2004 金属和氧化物镀层.镀层厚度的测量.显微镜法
NF C31-888-10-2003 超导性.第10部分:临界温度测量.用电阻法测量铌-钛、铌<下标3>锡和铋-系统氧化物复合超导体的临界温度
NF A91-455-7-1999 铝和铝合金.阳极化.第7部分:通过对预先进行酸处理的浸入到磷酸/铬酸溶液中的质量损失的测量评定密封阳极氧化物镀膜的质量
ISO 1463:2021 金属和氧化物涂层 - 涂层厚度测量 - 显微镜法
ISO/TS 18827:2017 纳米技术. 金属氧化物纳米材料产生活性氧(ROS)的电子自旋共振(ESR)测量方法
ISO 11894-1:2013 精细陶瓷(高级陶瓷,高级工艺陶瓷).离子-传导精细陶瓷电导率测量试验方法.第1部分:氧化物-离子-传导固体电解质
NBN I-877-1968 普通型硅酸盐水泥.镁氧化物的测量.通过络合法来进行
BS ISO 11894-1:2013 精细陶瓷(高级陶瓷、高级工艺陶瓷).离子-传导精细陶瓷电导率测量试验方法.氧化物-离子-传导固体电解质
BS EN 61788-9-2005 超导性.第9部分:成批高温超导体的测量.大粒氧化物超导体的截留流量密度
BS EN 61788-10-2002 超导性.临界温度测量.用电阻法测量Nb-Ti、Nb3Sn和铋族氧化物复合超导体的临界温度
BS EN 61788-10-2003 超导性.临界温度测量.用电阻法测量Nb-Ti、Nb3Sn和铋族氧化物复合超导体的临界温度
JIS H7305-2010 超导性.第3部分:临界电流测量.镀银和/或银合金的铋-2212和铋-2223氧化物超导体的临界直流电流
JIS H7313-2007 超导性.成批高温超导体的测量.大粒氧化物超导体的陷波流量密度
JIS H7309-2006 超导性.第10部分:临界温度测量.用电阻法对Nb-Ti、 Nb3Sn和铋-系统氧化物复合超导体的临界温度的测量
JIS H7305-2003 超导性.第3部分:临界电流测量.包银的铋-2212和铋-2223氧化物超导体的临界直流电流
JIS B7992-2002 用非萃取法测定烟道废气中氮的氧化物的自动测量系统
IEC 61788-3-2006 超导性 - 第3部分:临界电流测量 - Ag和/或Ag合金护套Bi-2212和Bi-2223氧化物超导体的直流临界电流
IEC 61788-3:2006 超导性.第3部分:临界电流测量.银和/或银合金铠装的铋-2212和铋-2223氧化物超导体的临界直流电流
IEC 61788-9-2005 超导性 - 第9部分:散装高温超导体的测量 - 大粒径氧化物超导体的捕获通量密度
IEC 61788-9:2005 超导性.第9部分:成批高温超导体的测量.大粒氧化物超导体的陷波流量密度
IEC 61788-3:2000 超导体 第3部分:临界电流测量 银-外膜铋-2212和铋-2223氧化物超导体的临界直流电流
IEC 60732-1982 圆柱体 管状螺纹和磁性氧化物的测量方法
IEC 60732:1982 磁性氧化物圆柱形、管形和螺纹磁芯的测量方法
DIN EN 61788-9-2006 超导性.第9部分:成批高温超导体的测量.大粒氧化物超导体的陷波流量密度(IEC 61788-9-2005).德文版本EN 61788-9-2005
EN 61788-9-2005 超导性.第9部分:成批高温超导体的测量.大粒氧化物超导体的陷波流量密度
KS C IEC 61788-10:2003 超导性.第10部分:临界温度测量.用电阻法对Nb-Ti、Nb3Sn和铋.系统氧化物复合超导体的临界温度的测量
SJ/T 11206-1999 磁性氧化物制成的双孔及多孔磁芯测量方法
SJ 3175-1988 磁性氧化物圆柱形磁芯管形磁芯及螺纹磁芯的测量方法
DS/ISO 3210:1988 铝及其合金的阳极氧化. 通过测量浸入磷铬酸溶液后的质量(mass)损失, 评定阳极氧化物镀层的密封性
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