本专题涉及场 效应的标准有1091条。
国际标准分类中，场 效应涉及到航空器和航天器综合、电磁兼容性(EMC)、长度和角度测量、电学、磁学、电和磁的测量、分析化学、航空航天用电气设备和系统、事故和灾害控制、光学和光学测量、轴承、建筑物中的设施、橡胶、半导体分立器件、纺织产品、电击防护、有色金属、试验条件和规程综合、教育、建筑材料、电气工程综合、服装、消防、光纤通信、人类工效学、电子元器件综合、地质学、气象学、水文学、航天系统和操作装置、土质、土壤学、增强塑料、质量、机器、装置、设备的特性和设计、电灯及有关装置、建筑物结构、医疗设备、实验室医学、道路工程、公司(企业)的组织和管理、机上设备和仪器、电子设备用机械构件、输电网和配电网、电工器件、钢轨和线路构件、铁路建筑、工业自动化系统、热力学和温度测量、数据存储设备、起重设备、农业机械、工具和设备、太阳能工程、金属材料试验、文娱活动设备、防护设备、辐射测量、绝缘材料、信息技术应用、水质、声学和声学测量、航空航天发动机和推进系统、化工产品、电信系统、纸和纸板、塑料、管道部件和管道、电力牵引设备、涂料和清漆、有关航空航天制造用镀涂和有关工艺、摄影技术、医学科学和保健装置综合、音频、视频和视听工程、焊接、钎焊和低温焊、航空航天制造用零部件、空气质量、集成电路、微电子学、橡胶和塑料制品、半成品材、词汇、有色金属产品、电线和电缆、机械安全、电子电信设备用机电元件、振动和冲击(与人有关的)、环境保护、黑色金属、土方机械、家用品安全、家用电气设备综合、核能工程、印制技术、光电子学、激光设备、耐火材料、建筑物、阀门、铺地非织物、家用、商用和工业用加热器具、文献成像象技术、涂料涂覆设备、表面处理和镀涂、电气设备元件、环境试验、电工和电子试验、无损检测、泵、石蜡、沥青材料和其他石油产品、微生物学、辐射防护、造船和海上构筑物综合、航空航天制造用材料、纺织机械、水力工程、办公机械、热泵、润滑剂、工业油及相关产品、无线通信、接口和互连设备、道路车辆装置、粘合剂和胶粘产品、流体动力系统、结构和结构元件、道路车辆综合、流体存储装置、危险品防护、涂料涂覆工艺。
在中国标准分类中，场 效应涉及到电子元器件、电磁兼容、基础标准与通用方法、电力综合、化学、基础标准与通用方法、卫生、安全、劳动保护、基础标准与通用方法、基础标准与通用方法、物理学与力学、光学计量、医用光学仪器设备与内窥镜、滑动轴承、建筑电器与防火器材设备、橡胶制品综合、气象学、半导体二极管、半导体三极管、基础标准与通用方法、场效应器件、重金属及其合金分析方法、综合技术、医疗器械综合、半导体分立器件、土壤、肥料综合、可靠性和可维护性、机车车辆通用标准综合、医疗设备通用要求、半导体分立器件综合、电磁计量、光通信设备、机械量仪表、自动秤重装置与其他检测仪表、教育、学位、学衔、滤波器、延迟线、冷却与冷却装置、石油沥青、电气设备与器具综合、电气系统与设备、导航通讯系统与设备、电子测量与仪器综合、数据通信设备、基础标准和通用方法、电力半导体器件、部件、线路构件、人类工效学、计量综合、信息处理技术综合、建材产品综合、毯类、标准化、质量管理、太阳能、金属物理性能试验方法、起重机械、纺织制品综合、电子计算机应用、劳动防护用品、环境条件、固体废弃物、土壤及其他环境要素采样方法、电工绝缘材料及其制品、纺织检测仪器、土壤环境质量分析方法、发动机辅助系统及其附件、供水、排水器材设备、水处理剂、标准化、质量管理、通信网技术体制、地基、基础工程、纸浆与纸板、涂料、合成橡胶基础标准与通用方法、牵引供电综合、塑料型材、涂料基础标准与通用方法、感光材料、航空与航天用非金属材料、数据媒体、火工产品、卫生综合、其他纺织制品、合成树脂、塑料基础标准与通用方法、基础标准与通用方法、Ｘ射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器、消防综合、工农业用加速器、牵引电气设备、服装、服饰品、半导体集成电路、电子设备机械结构件、光学计量仪器、工程防火、电工产品机械结构、印染制品综合、电子元件综合、数据通信、土壤、水土保持、大气、水、土壤环境质量标准、木材竹材防腐、低压配电电器、轻金属及其合金、基础标准与通用方法、卫生、安全、劳动保护、轻金属及其合金分析方法、噪声、振动测试方法、基础标准与通用方法、口腔科器械、设备与材料、矫形外科、骨科器械、移动通信设备、石油产品综合、金属力学性能试验方法、钢铁产品综合、计算机外围设备、建筑工程施工机械、家用电器基础标准与通用方法、微电路综合、核反应堆与核电厂核岛设备、核电厂核岛、密封材料、激光器件、计算机图形、工业电热设备、电力系统、连接器、耐火材料综合、物性分析仪器、基础标准与通用方法、供热器材设备、体外循环、人工脏器、假体装置、工业废水、污染物分析方法、阀门、屋面、铺面防水与防潮材料、天然气、基础标准与通用方法、复合材料与固体燃料、肥料与土壤调理剂、材料防护、安装、接线连接件、家用电热器具、环境条件与通用试验方法、标准化、质量管理、泵、测磁仪器、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合、数据元表示方法、装修材料、医学、石油勘探、开发与集输工程综合、防护用具与设备、航空、航天材料基础标准、基础标准与通用方法、船舶电气、观通、导航设备综合、合成树脂、塑料、纺织机械零部件、化工原料矿、微波、毫米波二、三极管、纺织机械与器具综合、液压与气动装置、文具、绘图仪器、簿册、卡片、通风、空调工程、润滑脂、通用核仪器、航空与航天用金属铸锻材料、输变电设备综合、无线电通信设备、工程水文、一般与显微外科器械、胶粘剂、粘结材料、电离辐射计量、起飞着陆装置、电工材料和通用零件综合、化学助剂、卫星广播设备、卫星通信设备、、制动系统、油罐汽车、专用材料及其制品、合成材料综合。
GB/T 41270.7-2022 航空电子过程管理 大气辐射影响 第7部分：航空电子产品设计中单粒子效应分析过程管理
GB/T 41270.9-2022 航空电子过程管理 大气辐射影响 第9部分：航空电子设备单粒子效应故障率计算程序与方法
GB/Z 17624.3-2021 电磁兼容 综述 第3部分：高空电磁脉冲(HEMP)对民用设备和系统的效应
GB/T 26958.28-2020 产品几何技术规范（GPS） 滤波 第28部分: 轮廓滤波器 端部效应
GB/T 37977.32-2019 静电学 第3-2部分:静电效应的模拟方法 机器模型(MM)的静电放电试验波形
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GB/T 35698.2-2019 短路电流效应计算 第2部分：算例
GB/T 36083-2018 纳米技术 纳米银材料 生物学效应相关的理化性质表征指南
GB/T 35698.1-2017 短路电流效应计算 第1部分：定义和计算方法
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GB/T 34956-2017 大气辐射影响 航空电子设备单粒子效应防护设计指南
GB/T 13870.4-2017 电流对人和家畜的效应 第4部分：雷击效应
GB/T 34955-2017 大气辐射影响 航空电子系统单粒子效应试验指南
GB/T 34168-2017 金、银纳米颗粒材料生物效应的透射电子显微镜检测方法
GB/T 34059-2017 纳米技术 纳米生物效应代谢组学方法 核磁共振波谱法
GB/T 33839-2017 基于生物效应含碳基纳米材料生物样品的透射电子显微镜检测方法
GBZ/T 163-2017 职业性外照射急性放射病的远期效应医学随访规范（代替 GBZ/T 163...
WST 356-2011 基质效应与互通性评估指南
GB/T 32006-2015 金纳米棒光热效应的评价方法
GB/T 28873-2012 纳米颗粒生物形貌效应的环境扫描电子显微镜检测方法通则
GB/T 27765-2011 SiO<下标 2>、TiO<下标 2>、Fe<下标 3>O<下标 4>及Al<下标 2>O<下标 3>纳米颗粒生物效应的透射电子显微镜检测方法
GB/T 28044-2011 纳米材料生物效应的透射电子显微镜检测方法通则
GB/T 23896-2009 滑动轴承.薄壁轴瓦质量保证.设计阶段的失效模式和效应分析(FMEA)
GB/T 13870.1-2008 电流对人和家畜的效应.第1部分:通用部分
GB/T 12832-2008 橡胶结晶效应的测定.硬度测量法
GB/T 21005-2007 紫外红斑效应参照谱、标准红斑剂量和紫外指数
GB/T 21039.1-2007 半导体器件 分立器件 第4-1部分:微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范
GB/T 13870.3-2003 电流对人和家畜的效应 第3部分;电流通过家畜躯体的效应
GB/T 6219-1998 半导体器件 分立器件 第8部分;场效应晶体管 第一篇 1GHz、5W以下的单栅场效应晶体管空白详细规范
GB/T 17031.1-1997 纺织品 织物在低压下的干热效应 第1部分;织物的干热处理程序
GB/T 17031.1-1997 "纺织品 织物在低压下的干热效应 第1部分：织物的干热处理程序"
GB/T 17031.2-1997 纺织品 织物在低压下的干热效应 第2部分;受干热的织物尺寸变化的测定
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GB/T 13870.2-1997 电流通过人体的效应 第2部分;特殊情况
GB/T 15449-1995 管壳额定开关用场效应晶体管 空白详细规范
GB/T 15450-1995 硅双栅场效应晶体管 空白详细规范
GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
GB/T 15137-1994 体效应二极管空白详细规范
GB/T 13870.1-1992 电流通过人体的效应 第1部分:常用部分
GB/T 13293.7-1991 高纯阴极铜化学分析方法 塞曼效应电热原子吸收光谱法测定铁、钴、铅量
GB/T 13293.3-1991 高纯阴极铜化学分析方法 塞曼效应电热原子吸收光谱法测定铬、锰、镉量
GB/T 13293.9-1991 高纯阴极铜化学分析方法 塞曼效应电热原子吸收光谱法测定锡量
GB/T 13293.8-1991 高纯阴极铜化学分析方法 塞曼效应电热原子吸收光谱法测定镍量
GB/T 12832-1991 橡胶结晶效应的测定 硬度测量法
GB/T 7826-1987 系统可靠性分析技术 失效模式和效应分析(FMEA)程序
GB/T 13870.2-2016 电流对人和家畜的效应 第2部分:特殊情况
GB/T 13870.5-2016 电流对人和家畜的效应 第5部分:生理效应的接触电压阈值
GBZ/T 163-2017 职业性外照射急性放射病的远期效应医学随访规范
IEC 63275-2-2022 半导体器件.碳化硅分立金属氧化物半导体场效应晶体管的可靠性试验方法.第2部分:由体二极管操作引起的双极退化的试验方法
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IEC 63275-1-2022 半导体器件碳化硅分立金属氧化物半导体场效应晶体管可靠性试验方法第1部分:偏置温度不稳定性试验方法
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IEC 60695-5-1:2021 火灾危险试验.第5-1部分:火灾流出物的腐蚀损伤效应.一般指南
IEC 60695-5-1:2021 RLV 火灾危险试验.第5-1部分:火灾流出物的腐蚀损伤效应.一般指南
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IEC 60747-8:2010+AMD1:2021 CSV 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管
IEC 60747-8-2010/AMD1-2021 修改件1.半导体器件.分立器件.第8部分:场效应晶体管
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IEC TS 60695-5-2-2021 火灾危险试验第5-2部分:火灾流出物的腐蚀损伤效应试验方法的总结和相关性
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IEC TS 60695-5-2:2021 RLV 火灾危险试验第5-2部分:火灾流出物的腐蚀损伤效应试验方法的总结和相关性
IEC TR 62959-2021 光纤电缆.电缆和电缆元件端部终端的收缩效应.指南
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IEC 60749-20-2020 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第20部分:塑料封装Smds的电阻与水分和焊接热的组合效应
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IEC 62373-1-2020 半导体器件.金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFET）的偏压温度稳定性试验.第1部分:MOSFET的快速BTI试验
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IEC TR 62396-8:2020 航空电子设备的过程管理大气辐射效应第8部分:航空电子设备中的质子、电子、π介子、μ子、α射线通量和单粒子效应意识指南
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IEC 60812-2018 失效模式和效应分析(FMEA和FMECA)
IEC TR 63158:2018 一般照明设备.照明设备频闪效应的客观试验方法
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IEC 62396-2-2017 航空电子系统的过程管理 - 大气辐射效应 - 第2部分:航空电子系统单事件效应测试指南
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IEC TR 62396-7-2017 航空电子设备的过程管理大气辐射效应第7部分:航空电子设备设计中单事件效应分析过程的管理
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IEC TR 62396-6-2017 航空电子设备的过程管理.大气辐射效应.第6部分:极端空间天气.对航空电子设备环境和电子设备的潜在影响
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IEC TR 62343-6-6-2017 动态模块.第6-6部分:设计指南.动态模块光学单元的故障模式效应分析
IEC TR 62343-6-6:2017 动态模块.第6-6部分:设计指南.动态模块光学单元的故障模式效应分析
IEC/TR 62343-6-6-2017 动态模块.第6-6部分:设计指南.动态模块的光学单元用故障模式效应分析
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IEC 60749-44:2016 半导体器件 - 机械和气候测试方法第44部分:中子束照射单事件效应（见）半导体器件测试方法
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IEC 62396-1:2016 航空电子设备过程管理 - 大气辐射效应 - 第1部分:航空电子设备中通过单一事件影响的大气辐射效应的住宿
IEC 62396-1-2016 航空电子设备过程管理.环境辐射影响.第1部分:航空电子设备内部由单粒子效应引起的环境辐射影响的调节
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IEC TR 60865-2-2015 短路电流.效应的计算.第2部分:计算示例
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IEC/TR 60865-2-2015 短路电流.效应计算.第2部分:计算实例
IEC PAS 62396-6-2014 航空电子设备的过程管理.大气辐射效应.第6部分:极端空间天气和对航空电子设备环境和电子设备的潜在影响
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IEC 62396-5:2014 航空电子设备的过程管理 - 大气辐射效应 - 第5部分:航空电子系统中热中子通量和单一事件效应评估
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IEC TR 62690-2014 光缆中的氢效应.指南
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IEC/TR 62690-2014 光缆的氢效应指南
IEC 62116-2014 有互联效应的光电变极器.孤立障碍措施的试验规程
IEC TR 61282-4-2013 光纤通信系统设计指南第4部分:非线性效应的调节和利用
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IEC/TR 61282-4-2013 纤维光学通信系统设计指南. 第4部分: 非线性效应的调节和利用
IEC 62396-3:2013 航空电子系统的过程管理 - 大气辐射效应 - 第3部分:系统设计优化以适应单一事件效应（见）大气辐射
IEC 62396-4:2013 航空电子设备的过程管理 - 大气辐射效应 - 第4部分:管理潜在的单一事件效应的高压飞机电子设计
IEC 62396-4-2013 航空电子设备过程管理.环境辐射影响.第4部分:高压飞机电子管理潜在单一事件效应的设计
IEC 62396-3-2013 航空电子设备过程管理.环境辐射影响.第3部分:调节大气辐射单一事件效应(SEE)的系统设计优化
IEC/TR 60479-5 Corrigendum 1-2013 电流对人和家畜的影响.第5部分:生理效应接触电压阈值.勘误表1
IEC 62396-2:2012 航空电子系统的过程管理 - 大气辐射效应 - 第2部分:航空电子系统单事件效应测试指南
IEC 60544-2-2012 电绝缘材料.测定电离辐射对绝缘材料的效应.第2部分:辐照和试验规程
IEC 62396-1:2012 航空电子设备过程管理 - 大气辐射效应 - 第1部分:航空电子设备中通过单一事件影响的大气辐射效应的住宿
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IEC TR 61292-7:2011 光放大器第7部分:光放大器中的四波混频效应
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IEC/TR 61292-7-2011 光学放大器.第7部分:光学放大器中的四波混合效应
IEC 107/160/DTS-2011 IEC/TS 62647-2(第一版):航空电子设备工艺管理.含有无铅焊剂的航空航天和防御电子系统.第2部分:减轻锡有害效应
IEC/TR 62343-6-6-2011 动态模块.第6-6部分:动态模块的光学单元用故障模式效应分析
IEC 60747-8:2010 半导体器件 - 分立器件 - 第8部分:场效应晶体管
IEC 60747-8-2010 半导体器件.分立器件.第8部分:场效应晶体管
IEC 62417:2010 半导体器件 - 金属氧化物半导体场效应晶体管（mosfets）的移动离子测试
IEC 62417-2010 半导体器件.金属氧化物半导体场效应管(MOSFETs)移动离子试验
IEC TS 62610-3:2009 电子设备的机械结构.符合IEC 60297和IEC 60917系列的机柜热管理.第3部分:设计指南:热电冷却系统的评估方法（珀耳帖效应）
IEC TS 62610-3-2009 电子设备的机械结构.符合IEC 60297和IEC 60917系列的机柜热管理.第3部分:设计指南:热电冷却系统的评估方法（珀耳帖效应）
IEC/TS 62610-3-2009 电子设备用机械结构.符合IEC 60297及60917系列标准的机壳热量管理.第3部分:设计指南:热电冷却系统用评估方法(珀尔帖效应)
IEC TS 62610-1-2009 电子设备的机械结构.符合IEC 60297和IEC 60917系列的机柜热管理.第1部分:设计指南:热电冷却系统的接口尺寸和规定（珀耳帖效应）
IEC TS 62610-1:2009 电子设备的机械结构.符合IEC 60297和IEC 60917系列的机柜热管理.第1部分:设计指南:热电冷却系统的接口尺寸和规定（珀耳帖效应）
IEC/TS 62610-1-2009 电子设备用机械构件.符合IEC 60297 和 IEC 60917 标准的机壳热量控制.第1部分:设计指南:接口尺寸和热电冷却系统规则(珀耳帖效应)
IEC 48D/393/DTS-2009 IEC 62610-1,Ed.1.0:电子设备用机械结构件.依照IEC 60297和IEC 60917机壳用热管理.第1部分:设计指南:电气提高的制冷系统用接口尺寸和规定(珀耳帖效应)
IEC 60749-20:2008 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第20部分:塑料封装Smds的电阻与水分和焊接热的组合效应
IEC 60949-1988/AMD1-2008 修改件1——考虑非绝热加热效应的热允许短路电流计算
IEC 60949:1988/AMD1:2008 修改件1——考虑非绝热加热效应的热允许短路电流计算
IEC 60949 AMD 1-2008 考虑非绝热加热效应的热容许短路电流的计算.修改件1
IEC 62116-2008 有互联效应的光电变极器用孤立障碍测量的试验程序
IEC TS 62396-5:2008 航空电子设备的过程管理.大气辐射效应.第5部分:航空电子系统中热中子通量和效应的评估指南
IEC/TS 62396-2-2008 电子设备的过程管理.大气辐射效应.第2部分:电子设备系统的单一作用效应测试指南
IEC/TS 62396-3-2008 航空电子设备的过程管理.大气辐射效应.第3部分:适应大气辐射的单一作用效应(SEE)的最优化系统设计
IEC/TS 62396-5-2008 电子设备的过程管理.大气辐射效应.第5部分:电子设备系统中热中子通量和效应的评估指南
IEC 60512-16-8:2008 电子设备连接器 - 测试和测量 - 第16-8部分:连接和端接的机械测试 - 测试16H:绝缘握持效应（压接）
IEC 64/1585/DTS-2007 IEC 60479-5 版本1:电流作用于人体和家畜的影响.第5部分:生理效应的接触电压界限值
IEC 61340-3-2:2006 静电 - 第3-2部分:模拟静电效应的方法 - 机器模型（mm）静电放电测试波形
IEC 61340-3-1:2006 静电 - 第3-1部分:模拟静电效应的方法 - 人体模型（hbm）静电放电测试波形
IEC 62373:2006 金属氧化物半导体场效应晶体管（mosfet）的偏温稳定性试验
IEC 62373-2006 金属氧化物半导体场效应管(MOSFET)的基本温度稳定性试验
IEC/TS 62396-1-2006 电子设备和控制系统的过程管理.大气辐射效应.第1部分:航空电子设备内经单个事件效应的大气辐射效应的调节
IEC 60812:2006 系统可靠性分析技术 - 故障模式和效应分析程序（FMEA）
IEC 60812-2006 系统可靠性分析技术.失效模式和效应分析(FMEA)程序
IEC TR 61000-1-5:2004 电磁兼容性（EMC）.第1-5部分:总则.民用系统的高功率电磁（HPEM）效应
IEC 60747-8-4-2004 半导体分立器件.第8-4部分:电力开关装置用金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)
IEC 60544-4-2003 电绝缘材料.电离辐射效应的测定.第4部分:在辐射环境中工作的分类体系
IEC/TR 61282-4-2003 纤维光学通信系统设计指南.第4部分:非线性效应的调节和利用
IEC/TS 60695-5-3-2003 着火危险试验.第5-3部分:燃烧废气的腐蚀破坏效应.漏泄电流和金属损失试验方法
IEC TS 60695-5-2:2002 火灾危险试验第5-2部分:火灾流出物的腐蚀损伤效应试验方法的总结和相关性
IEC TS 60695-5-2-2002 火灾危险试验第5-2部分:火灾流出物的腐蚀损伤效应试验方法的总结和相关性
IEC/TR 61000-1-3-2002 电磁兼容性(EMC).第1-3部分:在民用设备和系统上(宇宙射线强度的)高程电磁脉冲EMP(HEMP)效应总则
IEC 60747-8-2000 半导体装置.第8部分:场效应晶体管
IEC 60512-23-3-2000 电子设备用电机元件.基本试验程序和测量方法.第23-3部分:试验23c.连接件和附属件的屏蔽效应
IEC 60747-4-1-2000 半导体器件 分立器件 第4-1部分:微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管 空白详细规范
IEC 61578-1997 辐射防护仪表 α和/或β气溶胶测量仪用氡补偿效应的校正和检测 试验方法
IEC 61660-2-1997 电厂与变电站直流辅助设施中的短路电流 第2部分:效应计算
IEC 60747-8-3-1995 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 第3节:外壳额定开关场效应晶体管空白详细规范
IEC 60865-1 CORR 1-1995 短路电流.效应的计算.第1部分:计算方法和定义
IEC/TR2 60479-1-1994 电流对人和家畜的效应 第1部分:通用方面
IEC TR 60865-2:1994 短路电流.效应的计算.第2部分:计算示例
IEC TR 60865-2-1994 短路电流.效应的计算.第2部分:计算示例
IEC/TR 60865-2-1994 短路电流.效应计算.第2部分:计算实例
IEC 60865-2-1994 短路电流效应的计算.第2部分:计算举例
IEC 60544-1-1994 电气绝缘材料 电离辐射效应的测定 第1部分:辐射的相互作用和剂量
IEC 60865-1-1993 短路电流 效应的计算 第1部分:定义和计算方法
IEC 60747-8-2-1993 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 第2节:外壳额定功率放大场效应晶体管空白详细规范
IEC 60995-1991 通过模型液压机械的验收试验并在考虑其放大效应基础上对其原型机性能的测定
IEC 60544-2-1991 测定电离辐射对绝缘材料的效应的指南 第2部分:辐照和试验的规程
IEC 60949:1988 计算耐热短路电流 考虑非绝热加热效应
IEC/TR 60479-2-1987 通过人体的电流的效应 第2部分:特殊情况 第4章:频率100Hz以上的交流电流的效应 第5章:特殊电流波形的效应 第6章:短时单向单脉冲电流的效应
IEC 60747-8-1-1987 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 第1节:5W、1GHz以下的单栅场效应晶体管空白详细规范
IEC 60865-1986 短路电流效应的计算
IEC 60544-4-1985 测定电离辐射对绝缘材料的效应的指南 第4部分:在辐射环境中工作的分类体系
IEC 60812-1985 系统可靠性分析技术 失效模式和效应分析(FMEA)程序
IEC 60747-8-1984 半导体器件.分立器件.第8部分:场效应晶体管
ASTM E3089-22 材料特性和尺寸效应的纳米技术劳动力教育标准指南
ASTM C732-17(2022) 乳胶密封剂人工风化老化效应的标准试验方法
ASTM E1361-02(2021) X射线光谱分析中入射效应校正的标准指南
ASTM E984-12(2020) 识别俄歇电子能谱中化学效应和基质效应的标准指南
ASTM E759/E759M-92(2020) 用于结构构件的喷涂耐火材料的挠曲效应的标准试验方法
ASTM D8059-19 橡胶化合物的标准试验方法&x2014；使用密封腔无转子剪切流变仪测量未硫化动态应变软化（佩恩效应）
ASTM E983-19 俄歇电子光谱法中最小化不需要的电子束效应的标准指南
ASTM E983-10(2018) 俄歇电子光谱法中最小化不需要的电子束效应的标准指南
ASTM F1892-12(2018) 半导体器件电离辐射（总剂量）效应试验标准指南
ASTM D6555-17 评估会员木组装系统效应的标准指南
ASTM E3089-2017 材料性能和尺寸效应中纳米技术劳动力教育的标准指南
ASTM D8059-16 橡胶化合物的标准试验方法&x2014；使用密封腔无转子剪切流变仪测量未硫化动态应变软化（佩恩效应）
ASTM D471-16a 橡胶性能的标准试验方法&x2014；液体效应
ASTM D471-16 橡胶性能的标准试验方法&x2014；液体效应
ASTM D471-15a 橡胶性能的标准试验方法&x2014；液体效应
ASTM E759/E759M-92(2015)e1 用于结构构件的喷涂耐火材料的挠曲效应的标准试验方法
ASTM D471-15 橡胶性能的标准试验方法&x2014；液体效应
ASTM C1171-2015 耐火材料热冲击效应和热循环效应定量测量的标准试验方法
ASTM E1361-02(2014)e1 X射线光谱分析中入射效应校正的标准指南
ASTM F1983-14 用于评估植入物应用中可吸收生物材料的组织效应的标准实践
ASTM D6555-03(2014) 评估会员木组装系统效应的标准指南
ASTM D6035/D6035M-2013 采用柔性壁渗透计测定压实或完整土壤样品液体导电性冻融效应的标准试验方法
ASTM D471-12a 橡胶性能的标准试验方法&x2014；液体效应
ASTM E984-12 识别俄歇电子能谱中化学效应和基质效应的标准指南
ASTM F1892-12 半导体器件电离辐射（总剂量）效应试验标准指南
ASTM D471-12 橡胶性能的标准试验方法&mdash；液体效应
ASTM F1892-2012 半导体器件电离辐射 (总剂量) 效应试验的标准指南
ASTM E984-2012 用俄歇电子能谱法鉴别化学效应和基体效应的标准指南
ASTM F1467-11 X射线测试仪使用的标准指南（&x224810 keV光子）
ASTM E942-96(2011) 辐照金属中氦效应模拟的标准指南
ASTM E759-92(2011) 用于结构构件的喷涂耐火材料的挠曲效应的标准试验方法
ASTM F526-11 直线加速器脉冲辐射效应试验用剂量测量的标准试验方法
ASTM F1467-2011 半导体装置及集成电路电离辐射效应X射线测试仪(≈10 keV光子量)的标准使用指南
ASTM D5485-2011 用锥形腐蚀计测定燃烧制品的腐蚀效应的标准试验方法
ASTM F1192-2011 半导体装置重离子辐照导致的单粒子效应现象(SEP)测量的标准指南
ASTM F526-2011 测定线性加速器脉冲发射效应试验用剂量的标准试验方法
ASTM E983-10 俄歇电子光谱法中最小化不需要的电子束效应的标准指南
ASTM D471-10 橡胶性能的标准试验方法
ASTM E983-2010 在俄歇电子谱法中测定化学效应和基质效应的标准指南
ASTM F996-2010 利用亚阈值安伏特性分离由于氧化空穴和界面态产生的电离辐射感应金属氧化物半导体场效应晶体管阈电压偏移的标准试验方法
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ASTM D6815-2009 木制和木基产品的荷载和蠕变效应的持续时间的评价的标准规范
ASTM F2749-2009 测定薄膜开关或组件压痕效应的标准试验方法
ASTM F2750-08 测定薄膜开关或组件弯曲效应的标准试验方法
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ASTM E984-06 识别俄歇电子能谱中化学效应和基质效应的标准指南
ASTM D471-06e1 橡胶性能的标准试验方法
ASTM F1892-06 半导体器件电离辐射（总剂量）效应试验标准指南
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ASTM C1171-2005 耐火材料热冲击效应和热循环效应定量测量的标准试验方法
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ASTM F981-2004(2010) 外科植入用生物材料与肌肉及骨骼材料效应相容性的评定
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ASTM E1361-02 X射线光谱分析中入射效应校正的标准指南
ASTM E1361-2002(2014)e1 X射线光谱测定分析中共存元素效应校正的标准指南
ASTM E1361-2002 X射线光谱测定分析中共存元素效应校正的标准指南
ASTM E1361-2002(2007) X射线光谱测定分析中共存元素效应校正的标准指南
ASTM F2205-2002(2007) 鉴于生态原因的考虑、漏油效应中的化学分散剂使用的标准指南
ASTM D6815-2002a 木制和木基产品的荷载和蠕变效应的持续时间的评价的标准规范
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ASTM E984-95(2001) 识别俄歇电子能谱中化学效应和基质效应的标准指南
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ASTM F1358-2000(2005) 主要不是用于耐火的防护服用材料遇火效应的标准试验方法
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ASTM E1361-90(1999) X射线光谱分析中入射效应校正的标准指南
ASTM E983-94(1999) 俄歇电子光谱法中最小化不需要的电子束效应的标准指南
ASTM F1467-99 半导体器件和微电路电离辐射效应试验中X射线测试仪（[近似]10千电子伏光子）的使用标准指南
ASTM D5485-1999 用锥形腐蚀计测定燃烧制品的腐蚀效应的标准试验方法
ASTM F1467-1999(2005)e1 微电子装置的电离辐射效应试验中 X 射线测试仪(近似等于10 keV 辐射量子)的使用的标准指南
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ASTM F981-1999 外科植入用生物材料与肌肉及骨骼材料效应相容性的评定
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ASTM F996-1998 利用亚阈值安伏特性测定由于氧化空穴和界面态产生的电离辐射感应金属氧化物半导体场效应晶体管阈电压偏移分量的标准试验方法
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ASTM F526-97(2003) 直线加速器脉冲辐射效应试验用剂量测量的标准试验方法
ASTM F526-1997 测定线性加速器脉冲发射效应试验用剂量的方法
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ASTM E942-96(2003) 辐照金属中氦效应模拟的标准指南
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ASTM F616M-1996 测量MOSFET(金属氧化物半导体场效应晶体管)排漏电流的标准测试方法(米制单位)
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ASTM D2249-1994 金属框架表面釉漆和底漆风蚀效应预测的标准试验方法
ASTM D5473-1993(2006) 控制井部分渗透效应分析和无泄漏封闭蓄水层的水平和垂直液力传导性测定标准试验方法
ASTM F526-97 直线加速器脉冲辐射效应试验用剂量测量的标准试验方法
ASTM F418-77(1996)e1 霍尔效应测量用外延砷化镓磷化物恒成分区样品制备的标准实施规程
TCVN 2288-1978 危险和有害的生产效应.分类
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DIN IEC/TR 60865-2-2017 短路电流.效应计算.第2部分:计算举例(IEC/TR 60865-2-2015)
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DIN EN 13146-4-2015 轨道交通.轨道.紧固设备的试验方法.第4部分:反复载荷效应;德文版本EN 13146-4-2012+A1-2014
DIN EN ISO 11092-2014 纺织品.生理效应.稳态条件下耐热和耐水蒸汽性能的测量(防护热板排汗试验)(ISO 11092-2014);德文版本EN ISO 11092-2014
DIN EN 16602-30-02-2014 航天产品保证. 失效模式和效应 (以及临界性) 分析 (FMEA/FMECA); 英文版本EN 16602-30-02-2014
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DIN IEC/TS 60865-2-2013 短路电流.效应计算.第2部分:计算举例(IEC 73/163/CD-2012)
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DIN EN 31092-2013 纺织品.生理效应.稳态条件下耐热和耐水蒸汽性能的测量(防护热板排汗试验)(ISO 11092-1993 + Amd.1-2012).德文版本EN 31092-1993 + A1-2012
DIN EN 60544-5-2012 电绝缘材料.电离辐射效应的测定.第5部分:使用中老化的评定方法(IEC 60544-5-2011).德文版本EN 60544-5-2012
DIN EN 60865-1-2012 短路电流. 效应的计算. 第1部分:定义和计算方法 (IEC 60865-1-2011); 德文版本EN 60865-1-2012
DIN 55659-2-2012 色漆和清漆.pH值的测定.第2部分:带有离子敏场效应晶体管(ISFET)的pH电极
DIN EN 50443-2012 由高压交流电牵引系统和/或高压交流电供电系统引起的管线电磁干扰效应.德文版本EN 50443-2011
DIN EN 13146-4-2012 轨道交通.轨道.紧固设备的试验方法.第4部分:反复载荷效应
DIN EN ISO 175-2011 塑料.液态化学品浸入效应的测定用试验方法(ISO 175-2010).德文版本EN ISO 175-2010
DIN EN 62417-2010 半导体器件.金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)的移动离子试验(IEC 62417-2010);德文版本EN 62417-2010
DIN EN 60749-20-1-2009 半导体器件.机械和气候试验方法.第20-1部分:对水分和焊接热综合效应敏感的表面安装设备的处理,包装,标签和运输(IEC 60749-20-1:2009),德文版本EN 60749-20
DIN ISO 4226-2009 空气质量.一般效应.测量装置
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DIN EN 61340-3-2-2007 静电学.第3-2部分:静电效应模拟方法.机械模型(MM).静电放电试验波形
DIN EN 13146-4-2007 轨道交通.轨道.紧固设备的试验方法.第4部分:反复载荷效应(包括修改件A1:2006)
DIN EN 62373-2007 金属氧化半导体场效应晶体管(MOSFET)的基本温度稳定性试验
DIN EN 60812-2006 系统可靠性分析技术.失效模式和效应分析(FMEA)程序(IEC 60812:2006)
DIN EN 10325-2006 钢.热处理效应屈服强度增加的测定(烘烤-沉淀-索引)
DIN V 45694-2006 机械振动.包括由机械制造厂提供的可用信息对手传递振动效应的评定指南(CEN/TR 15350:2006)
DIN EN ISO 15831-2004 服饰.生理效应.用热的人体模型法测量隔热性
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DIN 38415-6-2003 德国对水、废水和淤泥的标准检验方法.亚有机体试验方法(T组).第6部分:对鱼的毒害.废水对鱼卵非急性毒害效应测定
DIN EN 13146-4-2003 轨道交通.路轨.紧固系统试验方法.第4部分:重复载荷效应
DIN EN 61660-1 Bb.1-2002 短路电流.电厂和变电站直流辅助设备中的短路电流.第1部分:短路电流和效应的计算范例 (IEC/TR 61660-3:2000-02)
DIN EN 424-2002 弹性地板覆盖物.模拟家具腿移动效应测定
DIN 58940-10 Bb.1-1998 医用微生物学.病源细菌(分支杆菌除外)对化疗敏感性的测定方法.第10部分:新化疗剂实验室效应的评定标准.补充件1:数据表
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DIN VDE 0870-1-1984 电磁效应.定义. [VDE 规范]
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ISO 21980:2020 空间系统 - 评估在低轨道卫星上使用的商业现货（COTS）部件的辐射效应
ISO 20975-2:2018 纤维增强塑料复合材料.层合板厚度特性的测定.第2部分:用碳纤维系统单向层合板弯曲试验测定弹性模量、强度和威布尔尺寸效应
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ISO 16610-28-2016 产品几何技术规范(GPS). 筛选. 第28部分: 轮廓滤波器: 端部效应
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ISO 11092-2014 纺织品.生理效应.稳态条件下耐热和耐水蒸气性能的测量(防护热板排汗试验)
ISO/TS 17929:2014 娱乐乘客生物力学效应
ISO 11092:2014 纺织品 - 生理效应 - 稳态条件下耐热和水蒸汽阻力的测量（出汗保护 - 热板试验）
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ISO 29200-2013 土质.高等植物遗传毒性效应的评估.蚕豆(Vicia faba)微核试验
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ISO 16191:2013 水质与灰分；沉积物对水杨梅生长行为的毒性效应测定
ISO 11092:1993/Amd 1:2012 纺织品.生理效应.稳态条件下耐热性和耐水蒸气性的测量（出汗保护热板试验）.修改件1
ISO 11092 AMD 1-2012 纺织品.生理效应.稳态条件下耐热性和水蒸气耐受性测量(热阻湿阻测试仪试验).修改件1
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ISO 175-2010 塑料.液态化学品浸入效应的测定用试验方法
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ISO 11079-2007 热环境的人类工效学.使用必备防护服时的冷应力和局部冷却效应的测定和说明
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ISO 10993-6:2007 医疗器械的生物学评价第6部分:植入后局部效应试验
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ISO 18926-2006 成像材料.磁光盘(MO)存储系统.基于温度和相对湿度效应的概率寿命的估算方法
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ISO 1817:2005 硫化橡胶.液体效应的测定
IWA 3:2005 图像安全-减少视觉图像序列引起的不良生物医学效应的发生率
ISO/TR 22588:2005 光学与光子学——激光和激光相关设备——激光光学元件中吸收诱导效应的测量与评价
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ISO 21992-2003 信息技术.系统间远程通信和信息交换.专用综合业务网.经由IP网络的QSIG隧道效应的镜像功能
ISO/IEC 21992-2003 信息技术.系统间远程通信和信息交换.专用综合业务网.经由IP网络的QSIG隧道效应的镜像功能
ISO 18921-2002 成像材料.只读数据光盘(CD-ROM).基于温度和相对湿度效应的概率寿命的估算方法
ISO/IEC 20162:2001 信息技术——使用不可逆效应在WORM（一次写入多次读取）型300 mm盒式光盘上进行数据交换——容量:每盒带30 GB
ISO/IEC 20162-2001 信息技术 利用不可逆效应的WORM（一次写多次读）型的300mm光盘盒上的数据交换 能力：30Gb/盒
ISO 3387 CORR 1-2000 橡胶 由测量硬度去测定结晶效应 技术勘误1
ISO/IEC 18093:1999 信息技术——使用不可逆效应在WORM（一次写入多次读取）型130 mm盒式光盘上进行数据交换——容量:每盒5.2 GB
ISO 1817:1999 硫化橡胶.液体效应的测定
ISO/IEC 15486:1998 信息技术——使用不可逆效应在WORM（一次写入多次读取）型130 mm盒式光盘上进行数据交换——容量:每个磁带盒2.6 GB
ISO 11907-4-1998 塑料 烟雾产生 火焰效应腐蚀性的测定 第4部分:使用热辐射式加热器的动态分解法
ISO 11907-1-1998 塑料 烟雾产生 火焰效应腐蚀性的测定 第1部分:指南
ISO 11907-3-1998 塑料 烟雾产生 火焰效应腐蚀性的测定 第3部分:使用移动式熔炉的动态分解法
ISO 11907-2-1995 塑料 烟雾产生 火焰效应腐蚀性的测定 第2部分:静态法
ISO 11659-1-1995 纺织机械与附件 与纺织加工油剂接触的机械零部件 第1部分:钢的防腐效应的测定
ISO 10263-6-1994 土方机械 司机室环境 第6部分:司机室日光辐射效应的测定
ISO 10993-6:1994 医疗器械的生物学评价.第6部分:植入后局部效应的试验
ISO 3387-1994 橡胶 由测量硬度去测定结晶效应
ISO 3387:1994 橡胶.用硬度测量法测定结晶效应
ISO 6471:1994 硫化橡胶.压缩下结晶效应的测定
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ISO 11092-1993 纺织品.生理效应.稳态条件下耐热和耐水蒸气性能的测量(防护热板排汗试验)
ISO/TR 9122-5:1993 消防废水的毒性试验.第5部分:消防废水毒性效应的预测
ISO 9866-1-1991 纺织品 织物在低压下的干热效应 第1部分:织物干热处理程序
ISO 9866-2-1991 纺织品 织物在低压下的干热效应 第2部分:干热下织物尺寸变化的测定
ISO 6603-2-1989 塑料.硬塑料多轴向冲击效应的测定.第2部分:器具刺穿试验
ISO 8569-1989 机械振动.对冲击和振动敏感的电子设备.在建筑物中对冲击和振动效应的测量方法和数据报告
ISO 4611-1987 塑料 湿热、水溅和盐雾效应的测定
ISO 7844:1985 大型钢筋混凝土面板之间带有连接杆和混凝土填充物的槽形垂直接缝——实验室机械试验——切向载荷效应
ISO 1817:1985 硫化橡胶.液体效应的测定
ISO 6471:1983 硫化橡胶.压缩下结晶效应的测定
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ISO 175-1981 塑料.液态化工产品,包括水的效应的测定
ISO 3387:1978 橡胶.用硬度测量法测定结晶效应
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QX/T 546-2020 空间高能粒子辐射效应术语
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BS EN ISO 11092-2014 纺织品. 生理效应. 稳态条件下耐热和耐水蒸汽性能的测定 (热阻湿阻测试仪试验)
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BS EN 62116-2014 有互联效应的光电变极器. 孤立障碍测量的试验程序
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BS PD ISO/TS 16976-6-2014 呼吸保护装置. 人为因素. 生理效应
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BS IEC 62396-4-2013 航空电子设备过程管理.环境辐射影响.高压飞机电子管理潜在单一事件效应的设计
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BS ISO 3387-2012 橡胶.由测量硬度去测定结晶效应
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BS ISO 18926-2012 成像材料. 磁光 (MO) 盘存储信息. 基于温度和相对湿度效应的概率寿命的估算方法
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BS DD IEC/TS 62610-1-2010 电子设备用机械结构.符合IEC 60297及IEC 60917系列标准的机壳热量管理.设计指南.热电冷却系统接口尺寸和规定(珀尔帖效应)
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PD 6575-2-1995 短路电流.效应计算.计算范例
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ITU-R PI.531-3-1994 影响有关太空船的无线电系统的电离层效应
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KS M ISO 3387-2009 橡胶.硬度测量法测定结晶效应
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KS C IEC 60512-23-3-2004 电子设备用电机元件.基本试验程序和测量方法.第23-3部分:试验23c.连接件和附属件的屏蔽效应
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KS C IEC 60949-2004 在考虑非绝缘加热效应条件下的热容许短路电流的计算
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KS C IEC 60068-2-48-2002 基本环境试验程序.第2部分:试验.第48节:模拟贮存效应的IEC标准68试验的应用导则
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KS C IEC 60747-8-2002 半导体器件.第8部分:场效应晶体管
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GJB 5814-2006 军用电子器件X射线剂量增强效应测量方法
GJB 5422-2005 军用电子元器件γ射线累积剂量效应测量方法
AIR FORCE MIL-STD-464 C-2010 系统电磁环境效应要求
DLA MIL-PRF-19500/652 B-2008 半导体器件.N-通道高压场效应硅晶体管.型号2N7387和2N7387U1,JAN,JANTX,JANTXV和JANS
DLA MIL-PRF-19500/634 C-2008 半导体装置,N通道晶体管场效应耐辐射(总剂量和单粒子效应),硅型号2N7405,2N7406,2N7407和2N7408,JANSD和JANSR
DLA MIL-PRF-19500/704 B-2008 半导体器件.N-通道场效应辐射硬化(总剂量和单事件效应)硅晶体管.型号:2N7485U3,2N7486U3和2N7487U3,JANTXVR和JANSR
DLA MIL-PRF-19500/705 B-2008 半导体装置,N通道晶体管场效应耐辐射(总剂量和单粒子效应),硅型号2N7488T3,2N7489T3和2N7490T3,JANTXVR和JANSR
DLA MIL-PRF-19500/747-2008 半导体装置,场效应耐辐射(总剂量和单粒子效应)晶体管,N通道,硅,型号2N7504T2,JANTXVR,JANTXVF,JANTXVG,JANTXVH,JANSF,JANSG,JANSR和JANSH
DLA SMD-5962-00521 REV E-2008 单片硅互补开关场效应晶体管驱动,耐辐射数字线性微电路
DLA MIL-M-38510/114 B VALID NOTICE 1-2008 线性单稳态单硅数字微电路,为低功率双极肖特基晶体管.晶体管逻辑电路,带两个场效应晶体管
DLA MIL-PRF-19500/597 D VALID NOTICE 1-2008 型号为2N7334,JAN,JANTX,JANTXV,JANS,JANHC,JANKCA2N7334以及JANHCA2N7334的硅晶体场效应半导体设备,带N个通道具四个三极管
DLA MIL-PRF-19500/605 C-2008 2N7292,2N7294,2N7296,和2N7298,JANTXVM,D,R,H 和JANSM,D和R型硅N通道耐辐射(仅总计量效应)场效应晶体管半导体装置
DLA MIL-PRF-19500/683 C-2008 2N7467U2,JANTXVR,F,G和H 和JANSR,F,G和H型耐辐射N通道场效应晶体管(总剂量和单粒子效应)半导体装置
DLA MIL-PRF-19500/158 R-2008 半导体装置,硅二极管,参考电压,补偿温度,类型1N3154-1到1N3157-1和1N3154UR-1到1N3157UR-1,JAN,JANTX,JANTXV和JANS,耐辐射(仅总剂量效应)JANTXVM,D,L,R,F,G,H和JANSM
DLA MIL-PRF-19500/452 H-2008 半导体装置,温度补偿低电平参考电压硅二极管,型号1N4565A-1 THROUGH 1N4584A-1和1N4565AUR-1到1N4584AUR-1,JAN,JANTX,JANTXV,JANS,JANHC和JANKC,耐辐射(仅总剂量效应) TYPES JAN
DLA SMD-5962-01504 REV B-2007 定制场效应晶体管500伏带门级保护混合微电路
DLA SMD-5962-90817 REV C-2007 硅单块 高速结型场效应晶体管,双操作增强器,直线型微型电路
DLA SMD-5962-91519 REV C-2007 硅单块 高速操作放大器,双精密结型场效应晶体管,直线式微型电路
DLA SMD-5962-81023 REV L-2006 硅单片双极场效应晶体管运算扬声器,线性微型电路
DLA SMD-5962-90633 REV A-2006 硅单片,四重双极结型场效应晶体管,运算放大器,线性微型电路
DLA MIL-PRF-19500/739-2006 场效应抗辐射半导体装置(总剂量和单粒子效应),N型通道和P型通道硅四晶体管,类型2N7518和2N7518U,JANTXVR,F和JANSR,F
DLA SMD-5962-97633 REV B-2006 微型电路,线型,双路,低功率J型场效应输入运算放大器,单块硅
DLA SMD-5962-90809 REV E-2006 硅单块 操作增强器,四列微功率结型场效应晶体管直线型微型电路
DLA SMD-5962-89976 REV B-2006 硅单片,结型场效应晶体管高速准确运算放大器,线性微型电路
DLA SMD-5962-98515 REV C-2006 微型电路,线型,双路J型场效应运算放大器,单块硅
DLA SMD-5962-03247 REV B-2005 双信道光耦合器金属氧化物半导体场效应晶体管电源的线性混合微型电路
DLA SMD-5962-91574 REV C-2005 输入场效应晶体管,差异操作放大器,直线式混合微型电路
DLA SMD-5962-01503 REV A-2005 600V或500V同门保护自定义混合微电路场效应晶体管
DLA SMD-5962-96897 REV C-2005 高电压金属氧化物半导体场效应晶体管运算放大器硅单片电路线型微电路
DLA MIL-PRF-19500/606 B-2004 2N7291,2N7293,2N7295和2N7297,JANTXVM(D和R)以及JANSM(D和R)型硅N型通道场效应抗辐射加固(仅总剂量)晶体管半导体装置
DLA MIL-S-19500/378 B VALID NOTICE 2-2004 类型2N2497到2N2500,2N3329到2N3332,JANTX的P型通道硅场效应晶体管半导体装置
DLA SMD-5962-88503 REV J-2003 硅单片双金属-氧化物半导体场效应晶体管驱动器线性微电路
DLA SMD-5962-88770 REV H-2003 硅单片单电源金属氧化物半导体场效应晶体管驱动器线性微电路
DLA SMD-5962-00521 REV D-2003 单片硅辐射硬化数字非线性微电路互补开关场效应管驱动器
DLA SMD-5962-97637 REV A-2003 微型电路,线型,快速J型场效应运算放大器,单块硅
DLA SMD-5962-01520 REV B-2003 单片硅线性微电路高电流场效应管驱动器
DLA SMD-5962-98636 REV C-2003 微型电路,线型,辐射加固,J型场效应输入运算放大器,单块硅
DLA SMD-5962-90958 REV B-2003 硅单块 操作放大器,低功率高输出驱动器,结型场效应晶体管输入,直线式微型电路
DLA SMD-5962-90500 REV B-2002 高速场效应晶体管输入运算放大器,线性混合微型电路
DLA SMD-5962-90902 REV A-2002 闭合环路缓冲放大器,输入场效应晶体管,直线式混合微型电路
DLA SMD-5962-89897 REV B-2002 硅单片,结型场效应晶体管四重高速准确运算放大器,线性微型电路
DLA SMD-5962-90808 REV C-2002 硅单块 操作增强器,双微功率结型场效应晶体管直线型微型电路
DLA SMD-5962-90807 REV D-2002 硅单块 操作增强器,微功率结型场效应晶体管直线型微型电路
DLA SMD-5962-87717 REV B-2002 硅单块 结型场效应晶体管模拟多路复用器,16沟道直线型微型电路
DLA SMD-5962-01512-2001 单片硅双高速线性微电路场效应管驱动器
DLA SMD-5962-89669 REV A-2001 硅单片,四重单刀单掷结型场效应晶体管模拟开关,线性微型电路
DLA SMD-5962-87660 REV A-2001 双功率金属氧化物半导体场效应晶体管驱动器,直线型微型电路
DLA SMD-5962-87706 REV A-2000 硅单块 操作扩大器,精密结型场效应晶体管输入,直线型微型电路
DLA SMD-5962-87716 REV A-2000 硅单块 结型场效应晶体管模拟多路复用器,8沟道直线型微型电路
DLA SMD-5962-87718 REV A-2000 硅单块 结型场效应晶体管模拟多路复用器,4沟道差异直线型微型电路
DLA MIL-PRF-19500/569 NOTICE 2-1999 JANTX,JANTXV和JANS 2N6966,2N696,2N6968和2N6969型硅制N型通道场效应晶体管半导体装置
DLA MIL-PRF-19500/378 B NOTICE 1-1999 类型2N2497到2N2500,2N3329到2N3332,JANTX的P型通道硅场效应晶体管半导体装置
DLA SMD-5962-90861 REV A-1996 硅单块 单一或双或四列操作增强器,结型场效应晶体管低功率,直线式微型电路
DLA SMD-5962-89622 REV A-1994 硅单片,结型场效应晶体管高速运算放大器,数字微型电路
DLA SMD-5962-89659-1990 场效应晶体管缓冲器线性混合微型电路
GJB 6238.7-2008 特种航空炸弹效应试验方法 第7部分：航空靶标炸弹靶标炬红外辐射强度 带通法
GJB 6238.2-2008 特种航空炸弹效应试验方法 第2部分：航空照明炸弹照明炬静止发光强度
GJB 6238.13-2008 特种航空炸弹效应试验方法 第13部分：航空标志炸弹标志炬空中识别距离
GJB 6238.20-2008 特种航空炸弹效应试验方法 第20部分：航空燃烧炸弹静爆燃烧时间
GJB 6238.3-2008 特种航空炸弹效应试验方法 第3部分：航空照明炸弹照明炬空中发光时间
GJB 6238.9-2008 特种航空炸弹效应试验方法 第9部分：航空标志炸弹标志炬静止发光强度、燃烧时间
GJB 6238.15-2008 特种航空炸弹效应试验方法 第15部分：航空发烟炸弹地面有效烟幕宽度和有效烟幕高度 照相法
GJB 6238.18-2008 特种航空炸弹效应试验方法 第18部分：航空燃烧炸弹火种火焰燃烧温度 热电偶法
GJB 6238.5-2008 特种航空炸弹效应试验方法 第5部分：航空闪光炸弹闪光体最大发光强度、最大光度形成时间
GJB 6238.11-2008 特种航空炸弹效应试验方法 第11部分：航空标志炸弹标志炬火焰色度
GJB 6238.12-2008 特种航空炸弹效应试验方法 第12部分：航空标志炸弹标志炬彩色烟雾色度
GJB 6238.17-2008 特种航空炸弹效应试验方法 第17部分：航空燃烧炸弹火种火焰燃烧温度 热辐射法
GJB 6238.10-2008 特种航空炸弹效应试验方法 第10部分：航空标志炸弹标志炬野外燃烧时间
GJB 6238.1-2008 特种航空炸弹效应试验方法 第1部分：总则
GJB 6238.21-2008 特种航空炸弹效应试验方法 第21部分：航空燃烧炸弹静爆有效火种数、点燃率
GJB 6238.14-2008 特种航空炸弹效应试验方法 第14部分：航空发烟炸弹地面烟幕遮蔽时间
GJB 6238.4-2008 特种航空炸弹效应试验方法 第4部分：航空照明炸弹伞炬系统降速
GJB 6238.19-2008 特种航空炸弹效应试验方法 第19部分：航空燃烧炸弹火种静态持续燃烧时间
GJB 6238.8-2008 特种航空炸弹效应试验方法 第8部分：航空靶标炸弹靶标炬红外辐射强度 光谱分布法
GJB 6238.22-2008 特种航空炸弹效应试验方法 第22部分：航空燃烧炸弹静爆火种散布半径、散布面积
GJB 6238.16-2008 特种航空炸弹效应试验方法 第16部分：航空发烟炸弹地面有效烟幕宽度和有效烟幕高度 摄像法
GJB 6238.6-2008 特种航空炸弹效应试验方法 第6部分：航空靶标炸弹靶标炬发光强度、发光时间
GJB 3196.23A-2005 枪弹试验方法.第23部分：爆炸弹爆炸效应试验
GJB 5494.28-2005 枪榴弹试验方法 第28部分：燃烧弹燃烧效应试验
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