本专题涉及表面 光谱的标准有116条。
国际标准分类中，表面 光谱涉及到分析化学、物理学、化学、集成电路、微电子学、金属材料试验、半导体材料、光学和光学测量、塑料、切削工具、航天系统和操作装置、词汇、制药学、涂料和清漆、太阳能工程、玻璃。
在中国标准分类中，表面 光谱涉及到基础标准与通用方法、合成材料综合、微电路综合、金属物理性能试验方法、半金属与半导体材料综合、日用玻璃制品、实验室用玻璃、陶瓷、塑料器皿、基础标准与通用方法、航天器综合、半金属及半导体材料分析方法、化学、材料防护、太阳能、陶瓷、玻璃综合。
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于表面 光谱的标准
GB/T 40110-2021 表面化学分析 全反射X射线荧光光谱法（TXRF）测定硅片表面元素污染
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于表面 光谱的标准
GB/T 36082-2018 纳米技术 特定毒性筛查用金纳米颗粒表面表征 傅里叶变换红外光谱法
GB/T 34190-2017 电工钢表面涂层的重量（厚度） X射线光谱测试方法
国家质检总局，关于表面 光谱的标准
GB/T 36082-2018 纳米技术 特定毒性筛查用金纳米颗粒表面表征 傅里叶变换红外光谱法
GB/T 34899-2017 微机电系统（MEMS）技术 基于拉曼光谱法的微结构表面应力测试方法
GB/T 30701-2014 表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定
GB/T 24578-2009 硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法
GB/T 4548.2-2003 玻璃制品 玻璃容器内表面耐水侵蚀性能 用火焰光谱法测定和分级
GB/T 24578-2015 硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法
美国材料与试验协会，关于表面 光谱的标准
ASTM G197-14(2021) 参考太阳光谱分布标准表:20°倾斜和垂直表面上的直接和漫反射
ASTM F3416-21 用傅里叶变换红外光谱法评定合成马表面成分的标准指南
ASTM G177-03(2020) 参考太阳紫外光谱分布标准表:37°；倾斜表面半球形
ASTM E1257-2016 在光谱化学分析中用于表面制备的研磨材料的评估标准指南
ASTM F2853-2010e1 通过能量色散X-射线荧光光谱法,利用多重单色刺激光束,以测定油漆表层和类似表面涂层或基质及同质材料的含铅量的标准试验方法
ASTM G197-08 参考太阳光谱分布的标准表:20&x00B0上的直接和漫反射倾斜和垂直表面
ASTM G177-03(2008)e1 参考太阳紫外光谱分布的标准表格:37°倾斜表面
ASTM G177-03 参考太阳紫外光谱分布的标准表:37倾斜表面上的半球形
ASTM G177-03e1 参考太阳紫外光谱分布的标准表:37倾斜表面上的半球形
ASTM G177-2003(2008)e1 太阳紫外线光谱分布参考标准表:37度倾斜表面上的半球形分布
ASTM G177-2003 太阳紫外线光谱分布参考标准表:37度倾斜表面上的半球形分布
ASTM G177-2003e1 太阳紫外线光谱分布参考标准表:37度倾斜表面上的半球形分布
国际标准化组织，关于表面 光谱的标准
ISO 19318-2021 表面化学分析. X射线光电光谱法. 电荷控制和电荷校正方法的报告
ISO 14707-2021 表面化学分析. 辉光释放光传播光谱测定法(GD-OES). 使用说明
ISO 20903-2019 表面化学分析 - 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱 - 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
ISO 15471-2016 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
ISO 4802-2:2016 玻璃器皿 - 玻璃容器内表面的耐水解性 - 第2部分:通过火焰光谱法和分类法测定
ISO/TR 18394:2016 表面化学分析.俄歇电子光谱.化学信息的推导
ISO 18554:2016 表面化学分析.电子光谱法.用X射线光电子能谱法分析的材料中X射线非预期降解的评定和校正程序
ISO 18554-2016 表面化学分析. 电子光谱. 采用X射线光电子能谱分析法对材料进行分析的X射线的意外降解的识别, 评估和修正程序
ISO 19830:2015 表面化学分析 - 电子光谱 - X射线光电子能谱峰值拟合的最低报告要求
ISO/TS 18507:2015 表面化学分析 - 全反射X射线荧光光谱在生物和环境分析中的应用
ISO/TS 18507-2015 表面化学分析. 全反射X射线荧光光谱法在生物和环境分析中的使用
ISO 18118-2015 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
ISO 14707-2015 表面化学分析 辉光释放光传播光谱测定法(GD-OES) 使用说明
ISO 17560-2014 表面化学分析.再生离子质量的光谱测定.硅中硼的深仿形方法
ISO 14706:2014 表面化学分析 - 通过全反射X射线荧光（TXRF）光谱测定硅晶片上的表面元素污染
ISO 13424-2013 表面化学分析.X射线光谱.薄膜分析报表
ISO/TS 14101-2012 纳米材料特定毒性筛选用金纳米粒子的表面特性记述:傅立叶变换红外光谱(FT-IR)方法
ISO 20903-2011 表面化学分析.俄歇电子能普和X射线光电子光谱.通报结果所需峰值强度和信息的测定方法
ISO 18115-1:2010 表面化学分析词汇第1部分:一般术语和光谱术语
ISO 17331-2004/Amd 1-2010 表面化学分析.硅片工作标准物质表面元素收集及其全反射X射线荧光光谱测定的化学方法.修改件1
ISO 18516-2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
ISO/TR 18394-2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法.化学信息的推导
ISO 20903-2006 表面化学分析.螺旋电子光谱法和X-射线光电光谱学.报告结果时测定峰强度的方法和必要信息的使用方法
ISO 24237-2005 表面化学分析.X射线光电子光谱法.强度的可重复性和稳定性
ISO 24236-2005 表面化学分析.螺旋电子光谱法.强度标的重复性和持久性
ISO 17331:2004 表面化学分析——硅片工作标准物质表面元素收集的化学方法及其全反射X射线荧光光谱测定
ISO 19318-2004 表面化学分析.X射线光电光谱法.电荷控制和电荷校正方法的报告
ISO 15470-2004 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
ISO 15471-2004 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
ISO 18118-2004 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
ISO 17331-2004 表面化学分析.从硅片工作基准材料表面采集元素的化学方法及其全反射X射线荧光光谱法的测定
ISO 17560-2002 表面化学分析.再生离子质量的光谱测定.硅中硼的深仿形方法
ISO 14707-2000 表面化学分析 辉光释放光传播光谱测定法(GD-OES) 使用说明
ISO 4802-2:1988 玻璃器皿玻璃容器内表面的耐水解性第2部分:火焰光谱法测定和分类
ISO 4802-2-1988 玻璃器皿 玻璃容器内表面的耐水性 第2部分:用火焰光谱法进行测定及分级
英国标准学会，关于表面 光谱的标准
BS ISO 15470-2017 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
BS ISO 15470-2017 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
BS ISO 15471-2016 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
BS ISO 15471-2016 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
BS ISO 4802-2-2016 玻璃器皿.玻璃容器内表面的耐水性.火焰光谱法测定和分类
BS PD ISO/TR 18394-2016 表面化学分析.俄歇电子光谱法.化学信息的推导
BS PD ISO/TR 18394-2016 表面化学分析.俄歇电子光谱法.化学信息的推导
BS ISO 18554-2016 表面化学分析. 电子光谱. 采用X射线光电子能谱分析法对材料进行分析的X射线的意外降解的识别, 评估和修正程序
BS PD ISO/TS 18507-2015 表面化学分析. 全反射X射线荧光光谱法在生物和环境分析中的使用
BS PD ISO/TS 18507-2015 表面化学分析. 全反射X射线荧光光谱法在生物和环境分析中的使用
BS ISO 18118-2015 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性系数的使用指南
BS EN 16602-70-05-2014 航天产品保证. 使用红外光谱法检测有机污染表面
BS ISO 17560-2014 表面化学分析.再生离子质量光谱测定.硅中硼的深仿形分析法
BS ISO 14706-2014 表面化学分析.采用全反射X射线荧光(TXRF)光谱法对硅片表面元素污染物的测定
BS ISO 14706-2014 表面化学分析.采用全反射X射线荧光(TXRF)光谱法对硅片表面元素污染物的测定
BS ISO 13424-2013 表面化学分析.X射线光谱.薄膜分析报表
BS ISO 13424-2013 表面化学分析.X射线光谱.薄膜分析报表
BS ISO 4802-2-2010 玻璃器皿.玻璃容器内表面的耐水性.火焰光谱法测定和分类
BS ISO 18516-2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
BS ISO 24236-2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法.强度标的可重复性和一致性
BS ISO 18118-2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性系数的使用指南
BS ISO 19318-2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.电荷控制和电荷校正方法的报告
BS ISO 15470-2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
BS ISO 17331-2004+A1-2010 表面化学分析.从硅片工作标准物质表面采集元素的化学方法及其全反射X射线荧光光谱(TXRF)法的测定
BS ISO 15471-2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
BS ISO 17560-2002 表面化学分析.再生离子质量光谱测定.硅中硼的深仿形分析法
BS ISO 14706-2000 表面化学分析.采用全反射X射线荧光(TXRF)光谱法对硅片表面元素污染物的测定
德国标准化学会，关于表面 光谱的标准
DIN EN 16602-70-05-2015 航天产品保证. 使用红外光谱法检测有机污染表面; 英文版本EN 16602-70-05-2014
DIN 52339-2-1980 玻璃的检验.检验玻璃容器内表面耐水解性的高压釜法和分类.火焰光谱测定法
欧洲标准化委员会，关于表面 光谱的标准
EN 16602-70-05-2014 航空产品质量保证.用红外光谱法进行有机污染表面的探测
EN 16602-70-05-2014 航空产品质量保证.用红外光谱法进行有机污染表面的探测
日本工业标准调查会，关于表面 光谱的标准
JIS K0167-2011 表面化学分析.俄歇电子光谱和X射线光电子能谱学.匀质材料定量分析用实验室测定相对敏感因子的使用指南
JIS K0164-2010 表面化学分析.再生离子质量的光谱测定.硅中硼的深压型用方法
JIS K0161-2010 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
JIS K0162-2010 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
法国标准化协会，关于表面 光谱的标准
NF X21-068-2010 表面化学分析.俄歇电子光谱法.电荷控制和校正用方法的报告
NF X21-061-2008 表面化学分析.螺旋电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
NF X21-059-2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法.强度等级的重复性和持久性
NF X21-058-2006 表面化学分析.俄歇电子能谱学和X射线光电子光谱法.测定峰强度使用的方法和报告结果时需要的信息
NF X21-051-2006 表面化学分析.再生离子质量的光谱测定.硅中硼的深仿形方法
NF B30-108-2-1989 玻璃器皿.玻璃容器内表面的耐水解.第2部分:火焰光谱法测定和分类
台湾地方标准，关于表面 光谱的标准
CNS 15064-1-2007 太阳能－在不同地球表面接收状况下之参考太阳光谱照射度－第1部：大气光程1﹒5下之直接垂直与半球太阳照射度
韩国标准，关于表面 光谱的标准
KS D ISO 19318-2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.电荷控制和电荷校正方法的报告
KS D ISO 18118-2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
KS D ISO 19318-2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.电荷控制和电荷校正方法的报告
KS D ISO 18118-2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
KS D ISO 15471-2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
KS D ISO 15470-2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
KS D ISO 15470-2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
KS D ISO 15471-2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法.选定的仪器性能参数的描述
KS D ISO 14706-2003 表面化学分析.用全反射X射线荧光光谱法测定硅圆片表面主要污物
KS D ISO 14706-2003 表面化学分析.用全反射X射线荧光光谱法测定硅圆片表面主要污物
KS D ISO 17560-2003 表面化学分析.再生离子质量的光谱测定.硅中硼的深仿形方法
KS D ISO 17560-2003 表面化学分析.再生离子质量的光谱测定.硅中硼的深仿形方法
，关于表面 光谱的标准
ONORM M 6253 Teil.1-1985 水质分析．亚甲蓝光谱法测定阴离子表面活化剂
澳大利亚标准协会，关于表面 光谱的标准
AS ISO 15472-2006 表面化学分析．X射线光电子光谱法．能量标度的校准
AS ISO 19319-2006 表面化学分析．Augur电子能谱法和X射线光电子光谱法．分析员对横向分辨率；分析区域和样品区域的目视检测
AS ISO 18118-2006 表面化学分析．俄歇电子能谱法和X射线光电子光谱法．均质材料定量分析中实验测定的相对灵敏系数使用指南
AS ISO 15470-2006 表面化学分析．X射线光电子光谱法．选定仪器性能参数的描述
AS ISO 15470-2006 表面化学分析．X射线光电子光谱法．选定仪器性能参数的描述
