本专题涉及光谱 工作的标准有30条。
国际标准分类中，光谱 工作涉及到分析化学、空气质量、太阳能工程。
在中国标准分类中，光谱 工作涉及到基础标准与通用方法、大气环境有毒害物质分析方法、工业防尘防毒技术、气体介质与放射性物质采样方法、金属化学分析方法综合。
国家质检总局，关于光谱 工作的标准
GB/T 30701-2014 表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定
，关于光谱 工作的标准
MSZ 21862/23-1983 工作场所气体空气污染物的检验，苯；甲苯；乙苯和二甲苯的测定，运用光谱测定法
美国材料与试验协会，关于光谱 工作的标准
ASTM D7948-20 通过红外光谱法测量工作场所空气中可吸入结晶二氧化硅的标准测试方法
ASTM D7948-14 通过红外光谱法测量工作场所空气中可吸入结晶二氧化硅的标准测试方法
ASTM D7948-14e1 通过红外光谱法测量工作场所空气中可吸入结晶二氧化硅的标准测试方法
ASTM D7948-2014 采用红外光谱法测量工作场所空气中可吸入结晶二氧化硅的标准试验方法
国际电工委员会，关于光谱 工作的标准
IEC 61853-2-2016 光伏（PV）模块性能测试和能量等级 - 第2部分:光谱响应度 入射角和模块工作温度测量
IEC 61853-2:2016 光伏（PV）模块性能测试和能量等级 - 第2部分:光谱响应度 入射角和模块工作温度测量
英国标准学会，关于光谱 工作的标准
BS ISO 17733-2015 工作场所空气.汞和无机汞化合物的测定.低温蒸气原子吸收光谱测定法或原子荧光光谱测定法
BS ISO 20552-2007 工作场所空气.汞蒸气的测定.金汞合金收集的方法和使用原子吸收光谱法或原子荧光光谱法的分析法
BS ISO 17331-2004+A1-2010 表面化学分析.从硅片工作标准物质表面采集元素的化学方法及其全反射X射线荧光光谱(TXRF)法的测定
BS ISO 17733-2004 工作场所空气.汞和无机汞化合物的测定.低温蒸气原子吸收光谱测定法或原子荧光光谱测定法
国际标准化组织，关于光谱 工作的标准
ISO 17733:2015 工作场所空气 - 汞和无机汞化合物的测定 - 通过冷蒸气原子吸收光谱法或原子荧光光谱法
ISO 17331-2004/Amd 1-2010 表面化学分析.硅片工作标准物质表面元素收集及其全反射X射线荧光光谱测定的化学方法.修改件1
ISO 20552:2007 工作场所空气和空气；汞蒸气的测定——方法采用金汞齐采集 原子吸收光谱法或原子荧光光谱法分析
ISO 20552-2007 工作场所气氛.测定汞蒸汽.通过原子吸收光谱法或原子荧光光谱法进行金-汞收集和分析方法
ISO 16740-2005 工作场所空气.气载颗粒物质中六价铬的测定.用二苯基卡巴胼的离子色谱法和光谱测定法
ISO 17331:2004 表面化学分析——硅片工作标准物质表面元素收集的化学方法及其全反射X射线荧光光谱测定
ISO 17331-2004 表面化学分析.从硅片工作基准材料表面采集元素的化学方法及其全反射X射线荧光光谱法的测定
韩国标准，关于光谱 工作的标准
KS I ISO 16740-2007 工作场所空气.气载颗粒物质中六价铬的测定.用二苯基卡巴胼的离子色谱法和光谱测定法
法国标准化协会，关于光谱 工作的标准
NF X43-204-2005 工作场所空气.气载颗粒物质中六价铬的测定.用二苯基卡巴胼的离子色谱法和光谱测定法
NF X43-275-2002 空气质量.工作场所空气.用原子光谱测量法测定工作场所空气中存在的元素
行业标准-黑色冶金，关于光谱 工作的标准
YB/T 4144-2006 建立和控制光谱化学分析工作曲线规则
