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光学微检测

光学微检测

发布时间:2025-09-18 00:00:00

中析研究所涉及专项的性能实验室,在光学微检测服务领域已有多年经验,可出具CMA和CNAS资质,拥有规范的工程师团队。中析研究所始终以科学研究为主,以客户为中心,在严格的程序下开展检测分析工作,为客户提供检测、分析、还原等一站式服务,检测报告可通过一键扫描查询真伪。

本专题涉及光学微的标准有29条。

国际标准分类中,光学微涉及到光电子学、激光设备、集成电路、微电子学、光学和光学测量、词汇、计量学和测量综合、道路车辆内燃机、电学、磁学、电和磁的测量、光纤通信、航空器和航天器综合。

在中国标准分类中,光学微涉及到激光器件、微电路综合、量具与量仪、光学计量、长度计量、进排气与燃油供给系统、光学仪器综合、数字显示仪表、光通信设备、半导体集成电路、光学计量仪器、基础标准与通用方法。


国家质检总局,关于光学微的标准

GB/T 41869.2-2022 光学和光子学 微透镜阵列 第2部分:波前像差的测试方法

GB/T 41869.2-2022 光学和光子学 微透镜阵列 第2部分:波前像差的测试方法

GB/T 41869.1-2022 光学和光子学 微透镜阵列 第1部分:术语

GB/T 41869.1-2022 光学和光子学 微透镜阵列 第1部分:术语

GB/T 6321-1986 光学扭簧测微计

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会,关于光学微的标准

GB/T 34894-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构应变梯度测量方法

GB/T 34900-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构残余应变测量方法

GB/T 34893-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法

,关于光学微的标准

KS B ISO 14880-1-2019 光学和光子学 - 微透镜阵列 - 第1部分:词汇

KS B ISO 14880-2-2018 光学和光子学 - 微透镜阵列 - 第2部分:波前像差的测试方法

国际标准化组织,关于光学微的标准

ISO 14880-1-2019 光学和光子学 - 微透镜阵列 - 第1部分:词汇

ISO 14880-1:2019 光学和光子学 - 微透镜阵列 - 第1部分:词汇

ISO 14880-1:2016 光学和光子学 - 微透镜阵列 - 第1部分:词汇

ISO/TR 14880-5:2010 光学和光子学微透镜阵列第5部分:试验指南

ISO/TS 19713-1-2010 道路车辆.内燃机和压缩机用进气口空气净化设备.第1部分:用微粒子测试分数效率(0.3 ?m至5 ?m光学直径)

ISO 14880-3:2006 光学与光子学——微透镜阵列第3部分:波前像差以外的光学特性试验方法

ISO 14880-4:2006 光学与光子学——微透镜阵列第4部分:几何特性试验方法

ISO 14880-2:2006 光学与光子学——微透镜阵列第2部分:波前像差试验方法

ISO 14880-1:2001 光学与光子学——微透镜阵列第1部分:词汇

欧洲标准化委员会,关于光学微的标准

EN ISO 14880-1-2016 光学和光子学-微透镜阵列第1部分:词汇和一般性质(ISO 14880-1:2016)

黑龙江省质量技术监督局,关于光学微的标准

DB23/T 1526-2013 光学气浮隔微振平台技术基本要求

法国标准化协会,关于光学微的标准

NF S10-132-3-2006 光学和光子学.微透镜列阵.第3部分:不同于波像差的光学特征的试验办法

NF C93-840-1-47-2002 光学纤维.第1-47部分:测量方法和试验程序.微弯曲损耗

美国国防后勤局,关于光学微的标准

DLA SMD-5962-88768 REV F-2003 单一渠道高速逻辑通道光学耦合隔离器数字混合微电路

DLA SMD-5962-96895-1997 双互补金属氧化物半导体,光学的铜传播器接口硅单片电路数字微电路

DLA SMD-5962-96896-1997 双互补金属氧化物半导体,光学的铜接收器接口硅单片电路数字微电路

英国标准学会,关于光学微的标准

BS EN 60793-1-47-2002 光学纤维.测量方法和试验规程.微弯曲损耗

行业标准-机械,关于光学微的标准

JB/T 2542-1991 光学计量仪器用光学机械测微装置.通用技术条件

行业标准-航空,关于光学微的标准

HB/Z 130-1988 微计算机辅助光学工具法安装准确度计算

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