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微波功率检测

本专题涉及微波 功率的标准有53条。

国际标准分类中,微波 功率涉及到工业炉、导体材料、半导体分立器件、整流器、转换器、稳压电源、电子显示器件、电子管。

在中国标准分类中,微波 功率涉及到工业电热设备、电气设备与器具综合、物理学与力学、半导体分立器件综合、微波管、电力半导体器件、部件、基础标准和通用方法、微波、毫米波二、三极管、电子技术专用材料、场效应器件、技术管理。


国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会,关于微波 功率的标准

GB/T 10066.6-2018 电热和电磁处理装置的试验方法 第6部分:工业微波加热装置输出功率的测定方法

国家质检总局,关于微波 功率的标准

GB/T 10066.6-2008 电热装置的试验方法.第6部分:工业微波加热装置输出功率的测定方法

GB/T 18662-2002 工业微波加热设备输出功率的测定方法

,关于微波 功率的标准

PN T04871-1973 微波管低功率行波管的电气试验

国家计量技术规范,关于微波 功率的标准

JJF 1887-2020 射频与微波功率传感器校准规范

国家军用标准-总装备部,关于微波 功率的标准

GJB 8221-2014 窄脉冲高功率微波外场功率测量方法

GJB 5616-2006 微波功率分配器通用规范

德国标准化学会,关于微波 功率的标准

DIN EN 61788-16-2013 超导性.第16部分:电气特性测量值.微波频率下超导体的功率依赖表面电阻(IEC 61788-16-2013).德文版本EN 61788-16-2013

DIN EN 61307-2012 工业微波加热装置.输出功率测试方法(IEC 61307-2011)

法国标准化协会,关于微波 功率的标准

NF C31-888-16-2013 超导性. 第16部分: 电气特性测量. 微波频率下超导体的功率依赖表面电阻

NF C79-661-2011 工业用微波加热设备.测定功率输出的试验方法

NF C79-661-2006 工业用微波加热设备.测定功率输出的试验方法

NF C79-661-1997 工业用微波加热设备.功率输出测定的试验方法

国际电工委员会,关于微波 功率的标准

IEC 61788-16-2013 超导电性 - 第16部分:电子特性测量 - 微波频率下超导体与功率相关的表面电阻

IEC 61307-2011 工业微波加热装置 - 用于确定功率输出的测试方法

IEC 61307:2011 工业微波加热设备.测定输出功率的试验方法

IEC 61307:1994 工业微波加热设备 测定输出功率的试验方法

IEC 60235-5:1972 微波管电性能的测量 第5部分:小功率振荡速调管

韩国标准,关于微波 功率的标准

KS C IEC 61307:2012 工业微波加热设备.测定输出功率的试验方法

行业标准-电子,关于微波 功率的标准

SJ 50033/171-2007 半导体分立器件3DA518型硅微波脉冲功率晶体管详细规范

SJ 50033/176-2007 半导体分立器件3DA523型硅微波脉冲功率晶体管详细规范

SJ 50033/175-2007 半导体分立器件3DA522型硅微波脉冲功率晶体管详细规范

SJ 50033/170-2007 半导体分立器件3DA516型硅微波脉冲功率晶体管详细规范

SJ 50033/173-2007 半导体分立器件3DA520型硅微波脉冲功率晶体管详细规范

SJ 50033/174-2007 半导体分立器件3DA521型硅微波脉冲功率晶体管详细规范

SJ 50033/172-2007 半导体分立器件3DA519型硅微波脉冲功率晶体管详细规范

SJ 50033/156-2002 半导体分立器件.3DA505型硅微波脉冲功率晶体管.详细规范

SJ 50033/157-2002 半导体分立器件.3DA506型硅微波脉冲功率晶体管.详细规范

SJ 50033/145-2000 半导体分立器件.3DA503型硅微波脉冲功率晶体管详细规范

SJ 50033/74-1995 半导体分立器件.3DA325型硅微波功率晶体管详细规范

SJ 50033/77-1995 半导体分立器件.3DA331硅微波功率晶体管详细规范

SJ 50033/80-1995 半导体分立器件.CS0513型砷化镓微波功率场效应晶体管详细规范

SJ 50033/79-1995 半导体分立器件.CS0536型砷化镓微波功率场效应晶体管详细规范

SJ 20514-1995 微波功率晶体管用硅外延片规范

SJ 50033/81-1995 半导体分立器件.CS0524型砷化镓微波功率场效应晶体管详细规范

SJ 50033.52-1994 半导体分立器件.CS0529型砷化镓微波功率场效应晶体管详细规范

SJ 50033.54-1994 半导体分立器件.CS0532型砷化镓微波功率场效应晶体管详细规范

SJ 50033.53-1994 半导体分立器件.CS0530、CS0531型砷化镓微波功率场效应晶体管详细规范

SJ 50033/140-1999 半导体光电子器件 3DA502型硅微波脉冲功率晶体管详细规范

SJ 50033/166-2004 半导体分立器件3DA507型硅微波脉冲功率晶体管详细规范

SJ 50033/167-2004 半导体分立器件3DA508型硅微波脉冲功率晶体管详细规范

SJ/Z 9008.4-1987 微波电子管电性能的测试 第5部分:小功率振荡速调管

SJ 50033/169-2004 半导体分立器件3DA510型硅微波脉冲功率晶体管详细规范

SJ 50033/168-2004 半导体分立器件3DA509型硅微波脉冲功率晶体管详细规范

SJ 50033/120-1997 半导体分立器件 CS205型砷化镓微波功率场效应晶体管详细规范

SJ 50033/119-1997 半导体分立器件 CS204型砷化镓微波功率场效应晶体管详细规范

SJ 20270-1993 YH1301型全固态微波扫频功率信号发生器检定规程

英国标准学会,关于微波 功率的标准

BS EN 61307-2006 工业微波加热装置.输出功率测定的试验方法

荣誉资质

旗下实验室已通过CMA、CNAS、ISO等多项资质认证,检测能力经权威部门评审认定,为检测数据的专业性与权威性提供坚实保障。

CMA检验检测机构资质认定证书
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CNAS实验室认可证书
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ISO管理体系认证证书
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高新技术企业证书
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精密仪器设备

研究所配备电感耦合等离子体质谱仪、气相色谱-质谱联用仪、高效液相色谱仪、扫描电子显微镜等各类精密仪器设备1000+台(套),覆盖光谱、色谱、质谱、力学、环境可靠性等多个检测方向。所有仪器均依法检定校准、量值溯源可靠,为检测数据的准确性与可追溯性提供坚实的硬件保障。

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电感耦合等离子体质谱仪

电感耦合等离子体质谱仪 ICP-MS

面向环境、食品、材料等领域,实现痕量与超痕量元素同时分析,检出限低至ppt级。

气相色谱-质谱联用仪

气相色谱-质谱联用仪 GC-MS

用于挥发性及半挥发性有机物的定性定量分析,广泛应用于环境监测与化学品检测。

高效液相色谱仪

高效液相色谱仪 HPLC

实现复杂体系中有机化合物的高效分离与准确定量,服务多领域成分检测。

扫描电子显微镜

扫描电子显微镜 SEM

观察材料微观形貌与组织结构,配合能谱实现微区成分分析。

万能材料试验机

万能材料试验机 UTM

精确测定材料拉伸、压缩、弯曲等力学性能指标,支撑产品质量控制。

高低温交变试验箱

高低温交变试验箱 TEMP

模拟高低温交变环境,考核产品在极端温度条件下的适应性与可靠性。

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