本专题涉及半峰宽和晶粒尺寸的标准有1条。
国际标准分类中,半峰宽和晶粒尺寸涉及到无损检测。
在中国标准分类中,半峰宽和晶粒尺寸涉及到X射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器。
GB/T 23413-2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定.X射线衍射线宽化法
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