反向阻断晶闸管检测

本专题涉及反向阻断晶闸管的标准有18条。

国际标准分类中，反向阻断晶闸管涉及到半导体分立器件、电子设备用机械构件、整流器、转换器、稳压电源。

在中国标准分类中，反向阻断晶闸管涉及到电力半导体器件、部件、半导体整流器件。

国家质检总局，关于反向阻断晶闸管的标准

GB/T 13151-2005 半导体器件 分立器件 第6部分;晶闸管 第三篇 电流大于100A、环境和管壳额定的反向阻断三极晶闸管空白详细规范

GB/T 13151-1991 100A以上环境或管壳额定反向阻断三极晶闸管空白详细规范

GB 13151-1991 100A以上环境或管壳额定反向阻断三极晶闸管空白详细规范

行业标准-机械，关于反向阻断晶闸管的标准

JB/T 7626-2013 反向阻断三极晶闸管测试方法

JB/T 7626-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法

JB/T 5839-1991 KH系列200A以上管壳额定反向阻断三极高压晶闸管

JB/T 5838-1991 KP系列1000A以上管壳额定反向阻断三极晶闸管

，关于反向阻断晶闸管的标准

KS C IEC 60747-6-1-2006(2016) 半导体器件分立器件第6部分:晶闸管第一节:100A及以下环境或外壳额定反向阻断三极晶闸管空白详细规范

KS C IEC 60747-6-1-2006(2021) 半导体器件分立器件第6部分:晶闸管第一节:100A以下环境或外壳额定反向阻断三极晶闸管空白详细规范

KS C IEC 60747-6-3-2006(2016) 半导体器件分立器件第6部分:晶闸管第三节:电流大于100A的环境和外壳额定反向阻断三极晶闸管空白详细规范

KS C IEC 60747-6-3-2006(2021) 半导体器件分立器件第6部分:晶闸管第三节:电流大于100A的环境和外壳额定反向阻断三极晶闸管空白详细规范

KS C 5206-1980(2000) 保证可靠性反向阻断三极晶闸管（小电流）

KS C 7023-1978(2013) 测试方法为反向阻断三极晶闸管

韩国标准，关于反向阻断晶闸管的标准

KS C IEC 60747-6-1:2006 半导体器件.分立器件.第6部分:晶闸管.第1节:电流在100A以下的额定环境和外壳的反向阻断三极闸流晶体管的空白详细规范

国际电工委员会，关于反向阻断晶闸管的标准

IEC 60747-6-3:1993 半导体器件 分立器件 第6部分:晶闸管 第3节:电流在100A以上的环境和外壳额定的反向阻断三极闸流晶体管空白详细规范

IEC 60747-6-1:1989 半导体器件 分立器件 第6部分:晶闸管 第1节:电流在100A以下的环境和外壳额定的反向阻断三极闸流晶体管空白详细规范

丹麦标准化协会，关于反向阻断晶闸管的标准

DS/IEC 747-6-1:1990 半导体器件.分立器件.第6部分:晶闸管.第1节:电流在100A以下的额定环境和外壳的反向阻断三极闸流晶体管的空白详细规范