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反向阻断晶闸管检测

本专题涉及反向阻断晶闸管的标准有18条。

国际标准分类中,反向阻断晶闸管涉及到半导体分立器件、电子设备用机械构件、整流器、转换器、稳压电源。

在中国标准分类中,反向阻断晶闸管涉及到电力半导体器件、部件、半导体整流器件。


国家质检总局,关于反向阻断晶闸管的标准

GB/T 13151-2005 半导体器件 分立器件 第6部分;晶闸管 第三篇 电流大于100A、环境和管壳额定的反向阻断三极晶闸管空白详细规范

GB/T 13151-1991 100A以上环境或管壳额定反向阻断三极晶闸管空白详细规范

GB 13151-1991 100A以上环境或管壳额定反向阻断三极晶闸管空白详细规范

行业标准-机械,关于反向阻断晶闸管的标准

JB/T 7626-2013 反向阻断三极晶闸管测试方法

JB/T 7626-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法

JB/T 5839-1991 KH系列200A以上管壳额定反向阻断三极高压晶闸管

JB/T 5838-1991 KP系列1000A以上管壳额定反向阻断三极晶闸管

,关于反向阻断晶闸管的标准

KS C IEC 60747-6-1-2006(2016) 半导体器件分立器件第6部分:晶闸管第一节:100A及以下环境或外壳额定反向阻断三极晶闸管空白详细规范

KS C IEC 60747-6-1-2006(2021) 半导体器件分立器件第6部分:晶闸管第一节:100A以下环境或外壳额定反向阻断三极晶闸管空白详细规范

KS C IEC 60747-6-3-2006(2016) 半导体器件分立器件第6部分:晶闸管第三节:电流大于100A的环境和外壳额定反向阻断三极晶闸管空白详细规范

KS C IEC 60747-6-3-2006(2021) 半导体器件分立器件第6部分:晶闸管第三节:电流大于100A的环境和外壳额定反向阻断三极晶闸管空白详细规范

KS C 5206-1980(2000) 保证可靠性反向阻断三极晶闸管(小电流)

KS C 7023-1978(2013) 测试方法为反向阻断三极晶闸管

韩国标准,关于反向阻断晶闸管的标准

KS C IEC 60747-6-1:2006 半导体器件.分立器件.第6部分:晶闸管.第1节:电流在100A以下的额定环境和外壳的反向阻断三极闸流晶体管的空白详细规范

国际电工委员会,关于反向阻断晶闸管的标准

IEC 60747-6-3:1993 半导体器件 分立器件 第6部分:晶闸管 第3节:电流在100A以上的环境和外壳额定的反向阻断三极闸流晶体管空白详细规范

IEC 60747-6-1:1989 半导体器件 分立器件 第6部分:晶闸管 第1节:电流在100A以下的环境和外壳额定的反向阻断三极闸流晶体管空白详细规范

丹麦标准化协会,关于反向阻断晶闸管的标准

DS/IEC 747-6-1:1990 半导体器件.分立器件.第6部分:晶闸管.第1节:电流在100A以下的额定环境和外壳的反向阻断三极闸流晶体管的空白详细规范

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CMA检验检测机构资质认定证书
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CNAS实验室认可证书
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ISO管理体系认证证书
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高新技术企业证书
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研究所配备电感耦合等离子体质谱仪、气相色谱-质谱联用仪、高效液相色谱仪、扫描电子显微镜等各类精密仪器设备1000+台(套),覆盖光谱、色谱、质谱、力学、环境可靠性等多个检测方向。所有仪器均依法检定校准、量值溯源可靠,为检测数据的准确性与可追溯性提供坚实的硬件保障。

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电感耦合等离子体质谱仪

电感耦合等离子体质谱仪 ICP-MS

面向环境、食品、材料等领域,实现痕量与超痕量元素同时分析,检出限低至ppt级。

气相色谱-质谱联用仪

气相色谱-质谱联用仪 GC-MS

用于挥发性及半挥发性有机物的定性定量分析,广泛应用于环境监测与化学品检测。

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高效液相色谱仪 HPLC

实现复杂体系中有机化合物的高效分离与准确定量,服务多领域成分检测。

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