本专题涉及光学测量系统以及光学成像系统的标准有14条。
国际标准分类中,光学测量系统以及光学成像系统涉及到光学和光学测量、光学设备。
在中国标准分类中,光学测量系统以及光学成像系统涉及到光电子器件综合、光学仪器综合、。
KS B ISO 15529-2011(2016) 光学和光子学 - 光学传递函数 - 采样成像系统的调制传递函数(MTF)的测量原理
KS B ISO 15529-2011(2021) 光学和光子学.光学传递函数.取样成像系统调制传递函数(MTF)的测量原理
KS B ISO 9358-2006(2021) 光学和光学仪器成像系统的遮蔽眩光定义和测量方法
KS B ISO 9358-2006(2016) 光学和光学仪器 - 成像系统的眩光眩光定义和测量方法
KS B ISO 15529:2011 光学和光子学.光学转移函数.取样成像系统的调制传递函数(MTF)的测量原理
KS B ISO 9358:2006 光学和光学仪器.成像系统杂散光.定义及测量方法
NF S10-050-2011 光学和光子学.光学转移函数.取样成像系统的调制传递函数(MIF)的测量原理.
NF S10-043-1998 光学和光学仪器.成像系统的黑化闪光.定义和测量方法
DIN ISO 15529:2010 光学和光子学.光学传递函数.采样成像系统调制传递函数(MTF)的测量原理(ISO 15529-2010)
BS ISO 15529:2010 光学和光学仪器.光学传递函数.样品成像系统的调制传递函数(MTF)的测量原理
ISO 15529:2010 光学和光子学.光学转移函数.取样成像系统的调制传递函数(MTF)的测量原理
ISO 15529:2007 光学和光子学.光学转移函数.取样成像系统的调制传递函数(MTF)的测量原理
ISO 15529:1999 光学和光学仪器 光的传递函数 成像系统调制传递函数的测量原理
ISO 9358:1994 光学和光学仪器 成像系统杂散光 定义及测量方法
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