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红外测量检测

本专题涉及红外 测量的标准有136条。

国际标准分类中,红外 测量涉及到金属材料试验、天文学、大地测量学、地理学、半导体材料、音频、视频和视听工程、绝缘流体、家用、商用和工业用加热器具、热力学和温度测量、空气质量、光学和光学测量、光电子学、激光设备、信息技术应用、无损检测、塑料、电工器件、半导体分立器件、奶和奶制品、燃料、陶瓷、计量学和测量综合、分析化学、涂料和清漆、金属矿、纸浆、糖、糖制品、淀粉、词汇、辐射测量、有关航空航天制造用镀涂和有关工艺、土质、土壤学、建筑构件、有色金属。

在中国标准分类中,红外 测量涉及到半金属及半导体材料分析方法、测绘综合、半金属与半导体材料综合、金属物理性能试验方法、广播、电视发送与接收设备、半导体分立器件综合、金属无损检验方法、其它电气器具、、基础标准与通用方法、、半导体发光器件、元素半导体材料、化合物半导体材料、选煤、乳与乳制品、陶瓷、玻璃综合、特种陶瓷、建筑卫生陶瓷、大气环境有毒害物质分析方法、染料、油料作物与产品、光学计量、辐射防护监测与评价、物理学与力学、航空与航天用非金属材料、电离辐射计量、环境卫生、建筑构配件与设备综合、热学计量、光学仪器综合、温度与压力仪表、光学测试仪器、土壤、水土保持、重金属及其合金分析方法。


国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会,关于红外 测量的标准

GB/T 1557-2018 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法

GB/T 36540-2018 水体可见光-短波红外光谱反射率测量

国家质检总局,关于红外 测量的标准

GB/T 36540-2018 水体可见光-短波红外光谱反射率测量

GB/T 14847-2010 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法

GB/T 1558-2009 硅中代位碳原子含量.红外吸收测量方法

GB/T 24581-2009 低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法

GB/T 1557-2006 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法

GB/T 8758-2006 砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法

GB/T 1558-1997 硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法

GB/T 14960-1994 电视广播接收机用红外遥控发射器技术要求和测量方法

GB/T 14847-1993 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法

GB/T 14143-1993 300-900μm硅片间隙氧含量红外吸收测量方法

GB/T 1557-1989 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法

GB/T 8758-1988 砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法

GB 8758-1988 砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法

GB/T 7287.9-1987 红外辐射加热器全法向发射率测量方法

GB/T 7287.4-1987 红外辐射加热器升温时间和降温时间测量方法

GB/T 7287.6-1987 红外辐射加热器绝缘电阻测量方法

GB/T 7287.7-1987 红外辐射加热器电-热辐射转换效率测量方法

GB/T 7287.2-1987 红外辐射加热器表面温度分布测量方法

GB/T 7287.10-1987 红外辐射加热器光谱法向发射率测量方法

GB/T 7287.3-1987 红外辐射加热器辐射面和背面温度比测量方法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会,关于红外 测量的标准

GB/T 33988-2017 城镇地物可见光-短波红外光谱反射率测量

美国材料与试验协会,关于红外 测量的标准

ASTM E1862-14(2022) 用红外成像辐射计测量和补偿反射温度的标准实施规程

ASTM E1897-14(2022) 用红外成像辐射计测量和补偿衰减介质透射率的标准实施规程

ASTM E1933-14(2022) 使用红外成像辐射计测量和补偿发射率的标准实施规程

ASTM D3162-21 大气中一氧化碳的标准试验方法(非色散红外光谱法连续测量)

ASTM E1421-99(2021) 描述和测量傅里叶变换中红外(FT-MIR)光谱仪性能的标准实施规程:零级和一级试验

ASTM F3080-21 用非旋转激光投影仪、红外测量和闭路电视摄像系统测量管道和导管横截面形状用激光技术的标准实施规程

ASTM F2778-09(2020) 通过镜面反射傅立叶变换红外光谱(R-FTIR)测量聚醚醚酮(PEEK)聚合物的结晶度百分比的标准测试方法

ASTM D3162-12(2020) 大气中一氧化碳的标准测试方法(通过非分散红外光谱法连续测量)

ASTM D7948-20 通过红外光谱法测量工作场所空气中可吸入结晶二氧化硅的标准测试方法

ASTM E1933-14(2018) 用红外成像辐射计测量和补偿发射率的标准实施规程

ASTM E1897-14(2018) 使用红外成像辐射计测量和补偿衰减介质透射率的标准实践

ASTM E1862-14(2018) 用红外成像辐射计测量和补偿反射温度的标准实施规程

ASTM F2778-09(2015) 通过镜面反射傅立叶变换红外光谱(R-FTIR)测量聚醚醚酮(PEEK)聚合物的结晶度百分比的标准测试方法

ASTM E1421-99(2015)e1 傅立叶变换中红外(FT-MIR)光谱仪的描述和测量性能的标准实践:零级和一级测试

ASTM E1897-14 使用红外成像辐射计测量和补偿衰减介质透射率的标准实践

ASTM E1862-14 用红外成像辐射计测量和补偿反射温度的标准实施规程

ASTM D7948-14e1 通过红外光谱法测量工作场所空气中可吸入结晶二氧化硅的标准测试方法

ASTM D7948-14 通过红外光谱法测量工作场所空气中可吸入结晶二氧化硅的标准测试方法

ASTM E1933-14 用红外成像辐射计测量和补偿发射率的标准实施规程

ASTM E1862-2014 采用红外成像辐射仪测量和均衡反射温度的标准试验方法

ASTM D7948-2014 采用红外光谱法测量工作场所空气中可吸入结晶二氧化硅的标准试验方法

ASTM E1897-2014 采用红外成像辐射仪测量和均衡衰减介质的传输性的标准试验方法

ASTM D3162-12 大气中一氧化碳的标准测试方法(通过非分散红外光谱法连续测量)

ASTM D3162-2012 大气中一氧化碳的标准试验方法(用非色散的红外光谱法的连续测量)

ASTM E1933-99a(2010) 用红外成像辐射计测量和补偿发射率的标准试验方法

ASTM E1862-97(2010) 用红外成像辐射计测量和补偿反射温度的标准试验方法

ASTM E1897-97(2010) 用红外成像辐射计测量和补偿衰减介质透射率的标准试验方法

ASTM F2778-09 通过镜面反射傅立叶变换红外光谱(R-FTIR)测量聚醚醚酮(PEEK)聚合物的结晶度百分比的标准测试方法

ASTM E1421-99(2009) 傅立叶变换中红外(FT-MIR)光谱仪的描述和测量性能的标准实践:零级和一级测试

ASTM D3162-94(2005) 大气中一氧化碳的标准测试方法(通过非分散红外光谱法连续测量)

ASTM E1933-99a(2005)e1 用红外成像辐射计测量和补偿发射率的标准试验方法

ASTM E1421-99(2004) 傅立叶变换中红外(FT-MIR)光谱仪的描述和测量性能的标准实践:零级和一级测试

ASTM D3162-94(2000)e1 大气中一氧化碳的标准测试方法(通过非分散红外光谱法连续测量)

ASTM E1933-99a 用红外成像辐射计测量和补偿发射率的标准试验方法

ASTM E1421-99 傅立叶变换中红外(FT-MIR)光谱仪的描述和测量性能的标准实践:零级和一级测试

ASTM E1933-1999a 使用红外成像辐射计测量和补偿发射率的标准试验方法

ASTM E1933-1999a(2005)e1 使用红外成像辐射计测量和补偿发射率的标准试验方法

ASTM E1897-97 用红外成像辐射计测量和补偿衰减介质透射率的标准试验方法

ASTM E1897-97(2002)e1 用红外成像辐射计测量和补偿衰减介质透射率的标准试验方法

ASTM E1862-97(2002)e1 用红外成像辐射计测量和补偿反射温度的标准试验方法

ASTM E1862-97e1 用红外成像辐射计测量和补偿反射温度的标准试验方法

ASTM E1862-1997e1 用红外成像辐射仪测量和均衡反射温度的标准试验方法

ASTM E1897-1997(2002)e1 用红外成像辐射仪测量和均衡衰减介质的传输性的标准试验方法

ASTM E1897-1997 用红外成像辐射仪测量和均衡衰减介质的传输性的标准试验方法

ASTM E1862-1997(2002)e1 用红外成像辐射仪测量和均衡反射温度的标准试验方法

ASTM E1897-1997(2010) 用红外成像辐射仪测量和均衡衰减介质的传输性的标准试验方法

ASTM F1619-95(2000) 以布鲁斯特角入射的p偏振辐射通过红外吸收光谱法测量硅片间隙氧含量的标准试验方法

ASTM D3162-1994(2005) 大气中一氧化碳的标准试验方法(用非扩散的红外光谱测定法进行连续测量)

中华全国供销合作总社,关于红外 测量的标准

GH/T 1319-2020 棉包红外成像温度测量装置

国际标准化组织,关于红外 测量的标准

ISO 22290:2020 无损检测 红外热像测试 热弹性应力测量方法通则

ISO 22290-2020 无损检测. 红外热成像检测. 热弹性应力测量方法的一般原理

ISO 14720-1-2013 生陶瓷和基本材料的测试.非氧化生陶瓷和基本材料的硫磺粉和颗粒的测定.第1部分:红外测量方法

ISO 14720-1:2013 陶瓷原材料和基础材料的测试——非氧化陶瓷原材料和基本材料粉末和颗粒中硫的测定第1部分:红外测量方法

ISO 22754:2008 制浆造纸——用红外反射测量法测定有效残余油墨浓度(埃里克数)

ISO 9686:2006 直接还原铁——碳和/或硫的测定——红外测量高频燃烧法

ISO 9686:1992 直接还原铁.碳和/或硫含量的测定.红外测量高频燃烧法

,关于红外 测量的标准

UNI 4912-1962 弹性材料:硫化材料试验,通过红外分光光度测量进行质量鉴别

国际电工委员会,关于红外 测量的标准

IEC 63180-2020 探测器探测范围的测量和声明方法.主要和次要运动探测用被动红外探测器

IEC 63180:2020 探测器探测范围的测量和声明方法.主要和次要运动探测用被动红外探测器

中国团体标准,关于红外 测量的标准

T/IAWBS 007-2018 4H 碳化硅同质外延层厚度的红外反射测量方法

行业标准-电子,关于红外 测量的标准

SJ/T 2658.16-2016 半导体红外发射二极管测量方法 第16部分:光电转换效率

SJ/T 2658.12-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第12部分:峰值发射波长和光谱辐射带宽

SJ/T 11552-2015 以布鲁斯特角入射P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量

SJ/T 2658.1-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第1部分:总则

SJ/T 2658.2-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第2部分:正向电压

SJ/T 2658.3-2015 半导体红外发射二极管测量方法.第3部分:反向电压和反向电流

SJ/T 2658.4-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第4部分:总电容

SJ/T 2658.5-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第5部分:串联电阻

SJ/T 2658.6-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第6部分:辐射功率

SJ/T 2658.7-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第7部分:辐射通量

SJ/T 2658.8-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第8部分:辐射强度

SJ/T 2658.9-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第9部分:辐射强度空间分布和半强度角

SJ/T 2658.10-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第10部分:调制带宽

SJ/T 2658.11-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第11部分:响应时间

SJ/T 2658.13-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第13部分:辐射功率温度系数

SJ/T 11496-2015 红外吸收法测量砷化镓中硼含量

SJ/T 11491-2015 短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量

SJ/T 10514-1994 电视广播接收机红外遥控部分的技术要求和测量方法

工业和信息化部,关于红外 测量的标准

SJ/T 2658.14-2016 半导体红外发射二极管测量方法 第14部分:结温

SJ/T 2658.15-2016 半导体红外发射二极管测量方法 第15部分:热阻

德国标准化学会,关于红外 测量的标准

DIN EN ISO 14720-1-2013 陶瓷原料和基本材料的测试.非氧化陶瓷原料和基本材料的硫磺粉和颗粒的测定.第1部分:红外测量方法(ISO 14720-1-2013).德文版本EN ISO 14720-1-2013

DIN 51095-1-2007 陶瓷原料和基本材料的测试.非氧化陶瓷原料和基本材料的粉末和颗粒中硫含量的测定.第1部分:感应电炉中原料发酵作用后的红外测量

DIN 50438-1-1995 半导体工艺材料检验.用红外吸收法测量硅的杂质含量.第1部分:氧

英国标准学会,关于红外 测量的标准

BS EN ISO 14720-1-2013 陶瓷原料和基本材料的测试. 非氧化陶瓷原料和基本材料的硫磺粉和颗粒的测定. 红外测量方法

BS EN ISO 14720-1-2013 陶瓷原料和基本材料的测试. 非氧化陶瓷原料和基本材料的硫磺粉和颗粒的测定. 红外测量方法

BS EN 14255-4-2006 暴露在非相干光辐射中人体的测量和评估.紫外光、可见光和红外辐射测量用术语和程度

BS EN 4592-2006 航空航天系列.颜料和清漆.红外反射率的测量用试验方法

BS DD 220-1994 土壤质量.矿物油含量的测定.红外光谱测量方法和气相色谱法

法国标准化协会,关于红外 测量的标准

NF B40-675-1-2013 陶瓷原料和基本材料的测试.非氧化陶瓷原料和基本材料的硫磺粉和颗粒的测定.第1部分:红外测量方法

NF X90-008-4-2006 非相干光辐射下个人辐照量的测量和评估.第4部分:紫外光、可见光和红外辐射测量中用术语和质量

NF X90-008-2-2006 非相干光辐射下个人辐照量的测量和评估.第2部分:工作地点内人工光源发出的可见和红外辐射

NF A06-726-1992 铜化学分析.硫含量测定.感应炉内燃烧后红外吸收测量法

欧洲标准化委员会,关于红外 测量的标准

EN ISO 14720-1-2013 陶瓷原料和基本材料的测试.非氧化陶瓷原料和基本材料的硫磺粉和颗粒的测定.第1部分:红外测量方法

EN 14626-2005 环境空气质量.使用非色散红外光谱法测量一氧化碳浓度的标准方法

韩国标准,关于红外 测量的标准

KS M 5506-2011 分光光度计数据红外反射测量试验法

KS M 5506-2011 分光光度计数据红外反射测量试验法

国家军用标准-国防科工委,关于红外 测量的标准

GJB 5892-2006 红外辐射率测量方法

美国采暖、制冷与空调工程师协会,关于红外 测量的标准

ASHRAE OR-05-4-1-2005 窗口表面温度测量的实验室红外热像技术

国家计量技术规范,关于红外 测量的标准

JJF 1107-2003 测量人体温度的红外温度计校准规范

荣誉资质

旗下实验室已通过CMA、CNAS、ISO等多项资质认证,检测能力经权威部门评审认定,为检测数据的专业性与权威性提供坚实保障。

CMA检验检测机构资质认定证书
CMA检验检测机构资质认定证书
CNAS实验室认可证书
CNAS实验室认可证书
ISO管理体系认证证书
ISO管理体系认证证书
高新技术企业证书
高新技术企业证书

精密仪器设备

研究所配备电感耦合等离子体质谱仪、气相色谱-质谱联用仪、高效液相色谱仪、扫描电子显微镜等各类精密仪器设备1000+台(套),覆盖光谱、色谱、质谱、力学、环境可靠性等多个检测方向。所有仪器均依法检定校准、量值溯源可靠,为检测数据的准确性与可追溯性提供坚实的硬件保障。

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电感耦合等离子体质谱仪

电感耦合等离子体质谱仪 ICP-MS

面向环境、食品、材料等领域,实现痕量与超痕量元素同时分析,检出限低至ppt级。

气相色谱-质谱联用仪

气相色谱-质谱联用仪 GC-MS

用于挥发性及半挥发性有机物的定性定量分析,广泛应用于环境监测与化学品检测。

高效液相色谱仪

高效液相色谱仪 HPLC

实现复杂体系中有机化合物的高效分离与准确定量,服务多领域成分检测。

扫描电子显微镜

扫描电子显微镜 SEM

观察材料微观形貌与组织结构,配合能谱实现微区成分分析。

万能材料试验机

万能材料试验机 UTM

精确测定材料拉伸、压缩、弯曲等力学性能指标,支撑产品质量控制。

高低温交变试验箱

高低温交变试验箱 TEMP

模拟高低温交变环境,考核产品在极端温度条件下的适应性与可靠性。

查看全部设备

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