本专题涉及质谱各个参数的标准有18条。
国际标准分类中，质谱各个参数涉及到食品试验和分析的一般方法、杀虫剂和其他农用化工产品、分析化学。
在中国标准分类中，质谱各个参数涉及到电子光学与其他物理光学仪器、基础标准与通用方法、合成食品添加剂、基础标准与通用方法。
国家质检总局，关于质谱各个参数的标准
GB/T 22572-2008 表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法
英国标准学会，关于质谱各个参数的标准
BS PD CEN/TR 16699-2014 食品. 利用气相色谱-质谱联用/质谱法 (GC-MS/MS) 测定农药残留物. 串联质谱参数
BS PD CEN/TR 16699-2014 食品. 利用气相色谱-质谱联用/质谱法 (GC-MS/MS) 测定农药残留物. 串联质谱参数
BS PD CEN/TR 15641-2007 食品分析.液相色谱串联质谱法测定农药残留物.串联质谱测定参数
BS ISO 20341-2003 表面化学分析.次级离子质谱法.多δ层标准材料深度溶解参数的估算方法
欧洲标准化委员会，关于质谱各个参数的标准
CEN/TR 16699-2014 食品添加剂.农药残留的测定.气相色谱.串联质谱法.串联质谱参数
CEN/TR 16699-2014 食品添加剂.农药残留的测定.气相色谱.串联质谱法.串联质谱参数
CEN/TR 16468-2013 食品分析.通过气相色谱-质谱联用仪测定杀虫剂残留.保留时间,质谱参数和检测器响应信息
CEN/TR 16468-2013 食品分析.通过气相色谱-质谱联用仪测定杀虫剂残留.保留时间,质谱参数和检测器响应信息
CEN/TR 15641-2007 食品分析.用LC-MS/MS测定农药残留物.串联质谱测定参数
日本工业标准调查会，关于质谱各个参数的标准
JIS K0169-2012 表面化学分析.二次离子质谱(SIMS).带多重亚铅层对照物的深度分辨率参数估算方法
JIS K0169-2012 表面化学分析.二次离子质谱(SIMS).带多重亚铅层对照物的深度分辨率参数估算方法
德国标准化学会，关于质谱各个参数的标准
DIN-Fachbericht CEN/TR 15641-2007 食品分析.用LC-MS/MS测定农药残留物.串联质谱测定参数
，关于质谱各个参数的标准
KS D ISO 20341-2005(2020) 表面化学分析二次离子质谱法用多δ层标准物质估算深度分辨参数的方法
韩国标准，关于质谱各个参数的标准
KS D ISO 20341-2005 表面化学分析.次级离子质谱法.多δ层标准材料深度溶解参数的估算方法
KS D ISO 20341-2005 表面化学分析.次级离子质谱法.多δ层标准材料深度溶解参数的估算方法
国际标准化组织，关于质谱各个参数的标准
ISO 20341:2003 表面化学分析——二次离子质谱法——利用多delta层标准物质估算深度分辨率参数的方法
ISO 20341-2003 表面化学分析.次级离子质谱法.多δ层标准材料深度溶解参数的估算方法
