介电损耗测试方法检测

本专题涉及介电损耗测试方法的标准有15条。

国际标准分类中，介电损耗测试方法涉及到印制电路和印制电路板、绝缘流体、绝缘材料。

在中国标准分类中，介电损耗测试方法涉及到电工绝缘材料及其制品、电容器、电子技术专用材料。

国家质检总局，关于介电损耗测试方法的标准

GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法

国际电工委员会，关于介电损耗测试方法的标准

IEC 61189-2-719-2016 电气材料 印刷电路板和其他互连结构和组件的测试方法 - 第2-719部分:互连结构材料的测试方法 - 相对介电常数和损耗切线（500 Mhz至10 Ghz）

IEC 61189-2-719:2016 电气材料 印刷电路板和其他互连结构和组件的测试方法 - 第2-719部分:互连结构材料的测试方法 - 相对介电常数和损耗切线（500 Mhz至10 Ghz）

美国材料与试验协会，关于介电损耗测试方法的标准

ASTM D3380-14 基于聚合物的微波电路基板的相对介电常数（介电常数）和损耗因子的标准测试方法

ASTM D3380-10 基于聚合物的微波电路基板的相对介电常数（介电常数）和损耗因子的标准测试方法

ASTM D3380-90(2003) 基于聚合物的微波电路基板的相对介电常数（介电常数）和损耗因子的标准测试方法

ASTM D924-1999e2 电绝缘液体的损耗因数(或功率因数)和电容率(介电常数)的标准测试方法

ASTM D924-1999e1 电绝缘液体的损耗因数(或功率因数)和电容率(介电常数)的标准测试方法

ASTM D2149-1997 频率为10MHz温度至500℃的固体陶瓷电介质电容率(介电常数)及损耗因数的测试方法

ASTM D2149-1997(2004) 频率为10MHz温度至500℃的固体陶瓷电介质电容率(介电常数)及损耗因数的测试方法

ASTM D3380-90(1995)e1 基于聚合物的微波电路基板的相对介电常数（介电常数）和损耗因子的标准测试方法

行业标准-电子，关于介电损耗测试方法的标准

SJ 20512-1995 微波大损耗固体材料复介电常数和复磁导率测试方法

SJ/T 11043-1996 电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法

，关于介电损耗测试方法的标准

CSN 34 6317-1984 电工材料陶瓷测试．电容率和介电损耗因数的测定方法