当前位置: 首页 > 检测项目 > 材料检测
纸张荧光亮度测定

纸张荧光亮度测定

发布时间:2026-01-08 11:17:29

中析研究所涉及专项的性能实验室,在纸张荧光亮度测定服务领域已有多年经验,可出具CMA和CNAS资质,拥有规范的工程师团队。中析研究所始终以科学研究为主,以客户为中心,在严格的程序下开展检测分析工作,为客户提供检测、分析、还原等一站式服务,检测报告可通过一键扫描查询真伪。

纸张荧光亮度测定技术

1. 检测项目:方法与原理
纸张荧光亮度,又称光学增白剂含量或荧光白度,指纸张在特定波长的紫外光激发下,其表面荧光物质发射出的可见蓝光(通常在430-450 nm范围)对视觉白度的贡献。其测定关键在于区分材料本质反射光与荧光增白剂产生的荧光发射光。

主要检测方法依据其原理可分为:

  • 紫外光含量法(UV-Content Method):该方法基于双单色器分光光度计。首先,在包含紫外辐射的全光谱(D65光源模拟)下测量样品的总亮度(R457)。随后,通过插入紫外截止滤光片(通常波长<400 nm)将激发光源中的紫外成分移除,再次测量样品在无紫外激发下的反射亮度(R457-UV)。两者之差即为荧光亮度(Fluorescence Component, FB),计算公式为:FB = R457 - R457-UV。此方法为国际通行的基准测试法,能有效分离反射与荧光成分。

  • 荧光辐射定量法:使用配备可控制紫外含量光源的分光光度计。通过精确调节照射样品光束中紫外光(如360 nm)的强度,并同步检测样品在蓝色波长区域(如457 nm)的辐射通量,直接计算荧光增白剂的相对激发效率。该方法可评估不同紫外激发强度下的荧光响应。

  • 化学萃取-光谱分析法:对于需要精确量化荧光增白剂(OBA)绝对含量的情况,采用特定溶剂(如吡啶-水溶液)从纸样中萃取OBA。随后使用荧光分光光度计对萃取液进行分析,通过测量其特定激发/发射波长下的荧光强度,对照标准曲线计算OBA的单位面积或单位质量含量。

2. 检测范围
纸张荧光亮度的检测广泛应用于对白度及外观有明确要求或限制的领域:

  • 文化印刷用纸:如高级书写纸、涂布美术纸、期刊用纸。检测旨在确保白度符合市场偏好,同时控制不同批次间的白度一致性。

  • 办公及信息用纸:复印纸、激光打印纸、喷墨打印纸。高荧光亮度可提升打印对比度,但需确保其在长期保存或后续处理(如OCR识别)中不产生负面影响。

  • 包装与标签用纸:食品包装纸、高档商品标签纸。检测用于满足特定视觉营销需求,同时需关注荧光物质迁移的潜在安全性问题。

  • 生活与特种用纸:面巾纸、卫生纸。检测用于控制产品感官品质。

  • 档案与耐久性纸张:用于长期保存的文件、书籍、艺术品用纸。此领域通常要求极低或零荧光亮度,以避免荧光物质老化导致纸张黄变或损害信息保存。

  • 纸浆与原材料评价:用于评估漂白浆及OBA添加工艺的效果。

3. 检测标准
纸张荧光亮度的测量已形成系统化的标准体系。相关研究文献指出,测量方法的核心在于标准化照明光源的紫外光谱成分、几何光学条件以及校准程序。
国际标准组织(ISO)和各国标准化机构发布的方法,普遍规定采用模拟D65照明体的光源,并在0/d或d/0几何条件下进行测量。标准强调了使用经标定的荧光标准白板和无荧光标准白板进行仪器定标的重要性,以建立准确的荧光亮度标尺。例如,通过“UV调节”功能,将仪器对荧光标准板的读数调整至其标定值,从而确保不同实验室间数据可比性。
有研究对比了不同紫外截止滤光片性能对测量结果的影响,指出滤光片的截止特性需严格控制。另有文献探讨了多色荧光材料(非单一OBA)存在时,使用单点测量(如457 nm)可能存在的局限性,建议结合全光谱数据进行评估。

4. 检测仪器
主要检测设备为实验室级的分光光度计,具备以下关键功能:

  • 双单色器系统:仪器在光源部分和检测部分均配备单色器,或采用等效设计,以实现对入射光波长和检测光波长的独立精确控制。这是实施紫外光含量法的硬件基础。

  • 可控紫外含量光源系统:光源可精确模拟D65照明体,并具备“紫外调节”功能。通常通过一个可移动的紫外截止滤光片或可调光阑,实现包含紫外(UV-in)和不含紫外(UV-out)两种照明状态的快速切换。

  • 反射积分球:积分球内壁涂有高反射性、无荧光材料,用于实现标准的漫射照明或漫射接收几何条件。球体直径、样品孔尺寸及光束陷阱设计均需符合标准规范。

  • 荧光校准标准板套装:包括一组已知荧光亮度值的陶瓷或聚合物标准白板,以及一块无荧光标准白板(如压制的氧化镁板或特定玻璃板),用于仪器的日常校准和紫外调节。

  • 光谱分析软件:专业软件不仅控制仪器操作、计算亮度指标(如CIE白度WI、荧光亮度FB值),还能显示和分析样品在300-700 nm范围内的完整反射光谱及荧光发射光谱,进行更深入的质量控制与研究分析。

检测资质
CMA认证

CMA认证

CNAS认证

CNAS认证

合作客户
长安大学
中科院
北京航空航天
合作客户
合作客户
合作客户
合作客户
合作客户
合作客户
合作客户
合作客户
合作客户
快捷导航
在线下达委托
在线下达委托
在线咨询 咨询标准
400-625-0567
最新检测
2026-04-28 12:32:59
2026-04-28 12:32:27
2026-04-28 12:31:57
2026-04-28 12:31:16
2026-04-28 12:30:51
2026-04-28 12:30:19
2026-04-28 12:29:38
2026-04-28 12:29:09
2026-04-28 12:28:14
2026-04-28 12:27:23
联系我们
联系中析研究所
  • 服务热线:400-625-0567
  • 投诉电话:010-82491398
  • 企业邮箱:010@yjsyi.com
  • 地址:北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121
  • 山东分部:山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼
前沿科学公众号 前沿科学 微信公众号
中析抖音 中析研究所 抖音
中析公众号 中析研究所 微信公众号
中析快手 中析研究所 快手
中析微视频 中析研究所 微视频
中析小红书 中析研究所 小红书
中析研究所
北京中科光析科学技术研究所 版权所有 | 京ICP备15067471号-33
-->