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GB/T 5095.2502-2021   电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)

GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)

发布时间:2025-06-10 18:09:15

中析研究所涉及专项的性能实验室,在GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)服务领域已有多年经验,可出具CMA和CNAS资质,拥有规范的工程师团队。中析研究所始终以科学研究为主,以客户为中心,在严格的程序下开展检测分析工作,为客户提供检测、分析、还原等一站式服务,检测报告可通过一键扫描查询真伪。

国家标准《电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)》由TC166(全国电子设备用机电元件标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。

主要起草单位四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院。

主要起草人庞斌 、朱茗 、肖淼 、刘俊 、汪其龙 。

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60512-25-2:2002。

采标中文名称:电子设备用连接器 试验和测量 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)。

基础信息

标准号:  GB/T 5095.2502-2021

发布日期:  2021-03-09

实施日期:   2021-10-01

标准类别:  方法

中国标准分类号:  L23

国际标准分类号:   31.220.10

31 电子学
31.220 电子电信设备用机电元件
31.220.10 插头和插座装置、连接器

归口单位:  全国电子设备用机电元件标准化技术委员会

执行单位:  全国电子设备用机电元件标准化技术委员会

主管部门:  工业和信息化部(电子)

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60512-25-2:2002。

采标中文名称:电子设备用连接器 试验和测量 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)。

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