国家标准《电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)》由TC166(全国电子设备用机电元件标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
主要起草单位四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院。
主要起草人庞斌 、朱茗 、肖淼 、刘俊 、汪其龙 。
本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60512-25-2:2002。
采标中文名称:电子设备用连接器 试验和测量 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)。
标准号: GB/T 5095.2502-2021
发布日期: 2021-03-09
实施日期: 2021-10-01
标准类别: 方法
中国标准分类号: L23
国际标准分类号: 31.220.10
31 电子学 |
31.220 电子电信设备用机电元件 |
31.220.10 插头和插座装置、连接器 |
归口单位: 全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
执行单位: 全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
主管部门: 工业和信息化部(电子)
本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60512-25-2:2002。
采标中文名称:电子设备用连接器 试验和测量 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)。
20121234-T-339 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)
20121231-T-339 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分:试验25e:回波损耗
GB/T 5095.2505-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分:试验25e:回波损耗
20121229-T-339 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减
GB/T 5095.2503-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减
GB/T 5095.1-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第1部分:总则
GB/T 5095.11-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第11部分:气候试验
GB/T 5095.9-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第9部分:杂项试验
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