当前位置: 首页 > 检测项目 > 检测标准
GB/T 5095.2501-2021   电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分:试验25a:串扰比

GB/T 5095.2501-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分:试验25a:串扰比

中析研究所涉及专项的性能实验室,在GB/T 5095.2501-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分:试验25a:串扰比服务领域已有多年经验,可出具CMA资质,拥有规范的工程师团队。中析研究所始终以科学研究为主,以客户为中心,在严格的程序下开展检测分析工作,为客户提供检测、分析、还原等一站式服务,检测报告可通过一键扫描查询真伪。

国家标准《电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分:试验25a:串扰比》由TC166(全国电子设备用机电元件标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。

主要起草单位四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院。

主要起草人庞斌 、朱茗 、肖淼 、刘俊 、汪其龙 。

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60512-25-1:2001。

采标中文名称:电子设备用连接器 试验和测量 第25-1部分: 试验25a:串扰比。

基础信息

标准号:  GB/T 5095.2501-2021

发布日期:  2021-03-09

实施日期:   2021-10-01

标准类别:  方法

中国标准分类号:  L23

国际标准分类号:   31.220.10

31 电子学
31.220 电子电信设备用机电元件
31.220.10 插头和插座装置、连接器

归口单位:  全国电子设备用机电元件标准化技术委员会

执行单位:  全国电子设备用机电元件标准化技术委员会

主管部门:  工业和信息化部(电子)

采标情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 60512-25-1:2001。

采标中文名称:电子设备用连接器 试验和测量 第25-1部分: 试验25a:串扰比。

相近标准

20121228-T-339  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分:试验25a:串扰比

20121235-T-339  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分:信号完整性试验 试验25i:外来串扰

GB/T 5095.2509-2020  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分:信号完整性试验 试验25i:外来串扰

GB/T 5095.1-1997  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第1部分:总则

GB/T 5095.11-1997  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第11部分:气候试验

GB/T 5095.9-1997  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第9部分:杂项试验

20121231-T-339  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分:试验25e:回波损耗

20121230-T-339  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分:试验25d:传输时延

GB/T 5095.2504-2021  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分:试验25d:传输时延

GB/T 5095.2505-2021  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分:试验25e:回波损耗

联系我们
联系中析研究所
  • 服务热线:400-635-0567
  • 投诉电话:010-82491398
  • 企业邮箱:010@yjsyi.com
  • 地址:北京市丰台区南三环西路16号2号楼27层
  • 山东分部:山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼